掃描透射探測器 參考價：面議
掃描透射探測器是將透射電鏡（TEMs）和掃描電鏡（SEM）原理相結合的電子顯微鏡。它可以部分實現透射電子顯微鏡（TEM）的應用。STEM 探測器利用透射電子反映...
背散射電子探測器 參考價：面議
背散射電子探測器取決于試樣的平均原子序數，平均原子序數大的區域比平均原子序數小的區域更亮。因此，背散射電子圖像反映樣品的成分襯度。
二次電子探測器 參考價：面議
二次電子探測器是指從試樣表面淺處（深度為幾 nm）發射出的低能量電子，故而能對樣品表面形貌呈高分辨率圖像。二次電子是由入射電子與試樣發生非彈性散射而產生，能量低...
TIMA-X 綜合礦物分析儀 參考價：面議
TIMA-X 綜合礦物分析儀是一款自動化礦物分析系統，可用于如巖石、礦石、精礦、尾礦、浸出渣或冶煉產品等的快速定量分析。
FERA3雙束掃描電鏡 參考價：面議
FERA3雙束掃描電鏡離子束流高達 2 µA，因此其濺射速度是傳統 Ga 離子源的 50 倍以上，這使得 FERA3 成為完成耗時過長或幾乎不可能實現...
GAIA3掃描電鏡 參考價：面議
GAIA3掃描電鏡是一款可以挑戰納米設計應用的理想平臺，它同時具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質量超薄 TEM 樣品制備、在技術節點減少流程、精確...
XEIA3掃描電鏡 參考價：面議
XEIA3掃描電鏡集非凡的超高分辨成像能力和優異的微細加工于一體。強大且超快速的微/納米 FIB 加工、低能電子束下的超高分辨率（UHR）、超快且可靠的微量分析...
LYRA3掃描電鏡 參考價：面議
LYRA3掃描電鏡是一款集高分辨率 FE-SEM 鏡筒和多功能的高性能 Ga 離子源 FIB 于一體的雙束掃描電鏡，是切割橫斷面、定位制備高質量TEM樣品以及高...
TESCAN S8000G掃描電鏡 參考價：面議
TESCAN S8000G掃描電鏡是一款 FIB-SEM 系統，滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求，它可以提供的圖像質量，可完成復雜的納米操作并保證的精度和...
TESCAN S9000G掃描電鏡 參考價：面議
TESCAN S9000G掃描電鏡 是一款鎵離子源的 FIB-SEM 系統，適用于超薄 TEM 樣品制備和其它具有挑戰性的納米加工任務，這些任務要求設備具有分辨...
VEGA3掃描電子顯微鏡 參考價：面議
VEGA3掃描電子顯微鏡是 TESCAN 公司推出的*款掃描電子顯微鏡系列，經過 16 年的不斷研發改進，如今已是成熟的第三代產品。歷經多年市場考驗，VEGA ...
MIRA3掃描電鏡 參考價：面議
MIRA3掃描電鏡配備有高亮度肖特基電子槍，以獲得高分辨及低噪聲成像。MIRA3 為用戶提供優秀的掃描電鏡使用體驗，擁有更快的圖像采集速度，超快速的靜態和動態圖...
MAIA3掃描電子顯微鏡 參考價：面議
MAIA3掃描電子顯微鏡在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。這對于納米材料的綜合表征，半導體工業中對電子束敏感樣品及未鍍膜的生物樣品等非導電樣品的成像都非常適...
TESCAN S8000場發射掃描電鏡 參考價：面議
TESCAN S8000場發射掃描電鏡具有超高的分辨率和強大的擴展分析能力。能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求。TESCAN BrightBeam&trade...
TESCAN S9000分析儀 參考價：面議
TESCAN S9000分析儀是一款功能極其強大的分析儀器，可用于表征納米材料的表面以及進行微觀分析。TESCAN S9000采用 Triglav™...
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