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TESCAN S8000G掃描電鏡是一款 FIB-SEM 系統，滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求，它可以提供的圖像質量，可完成復雜的納米操作并保證的精度和操作靈活性。

TESCAN S8000G掃描電鏡配置了BrightBeam™ 鏡筒，真正的無磁場超高分辨（UHR）可以實現各種分析，包括磁性樣品的分析，以及在 FIB 操作時 SEM 的實時監測。新型鏡筒中的電子光路設計增強了分辨率，特別適合低束流時對電子束敏感樣品和不導電樣品的分析。另一方面，創新的 Orage™ Ga FIB 鏡筒配有的離子光學系統和設計的 OptiGIS™氣體注入系統，使得 TESCAN S8000G 成為了樣品制備和納米加工的儀器。

模塊化、基于工作流的軟件確保了在所有應用中都能進行操控，不需要在復雜的技術之間進行取舍，用戶界面友好。TESCAN S8000G 適用于的 FIB-SEM 應用，適合那些在科技領域追求更好的理解和突破的人員。