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微光顯微鏡EMMI半導體芯片檢測 具有相同的原理和功能。兩種探測光子的傳感器都是由電子-空穴復合和熱載流子觸發的。

半導體芯片失效分析微光顯微鏡 是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發出的微量光子的一種設備。

砷化鎵微光顯微鏡 是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發出的微量光子的一種設備。

EMMI微光顯微鏡 具有相同的原理和功能。兩種探測光子的傳感器都是由電子-空穴復合和熱載流子觸發的。

微光顯微鏡 是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發出的微量光子的一種設備。

EMMI半導體芯片檢測微光顯微鏡 是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發出的微量光子的一種設備。

等離子體納米表面處理升級改造系統 等離子體改性強化換熱器服務于工業生產、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調、制冷、生活熱水及熱電系統的換熱與冷凝。

薄膜熱膨脹系數測定儀 導熱系數是建筑材料最重要的熱濕物性參數之一，與建筑能耗、室內環境及很多其他熱濕過程息息相關。

薄膜熱導率測試系統 導熱系數是建筑材料最重要的熱濕物性參數之一，與建筑能耗、室內環境及很多其他熱濕過程息息相關。

等離子體納米改良性升級系統 等離子體改性強化換熱器服務于工業生產、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調、制冷、生活熱水及熱電系統的換熱與冷凝。

原子層沉積表面改造提升處理系統 存儲電容器絕緣層-銅連線間的高縱橫比擴散勢壘區有機發光二極管和聚合物的無針孔鈍化層鈍化晶體硅太陽能電池

原子層沉積表面改性設備分子涂層 存儲電容器絕緣層-銅連線間的高縱橫比擴散勢壘區有機發光二極管和聚合物的無針孔鈍化層鈍化晶體硅太陽能電池

ITC57300 IGBT半導體分立器件動態參數系統 是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。

ITC57300半導體分立器件動態參數測試系統 是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。

等離子體納米改性系統 等離子體改性強化換熱器服務于工業生產、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調、制冷、生活熱水及熱電系統的換熱與冷凝。

供應液態冷熱沖擊試驗箱 用于檢測材料在各種環境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品...

液態冷熱沖擊試驗機供應商 用于檢測材料在各種環境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食...

ITC57300IGBT分立器件動態參數測試系統 是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。

半導體分立器件靜態式參數測試儀 是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。

半導體SiC動態參數測試儀 是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的儀器。