微光顯微鏡

LED光源是LED產品的心臟，主要功能就是把電能轉化成光能，因此注重光品質尤其重要！而當前，芯片廠和燈珠廠在LED光源設計過程中，僅僅是針對光源進行相對簡單的測量，獲得整體的亮度、波長和電壓等參數，并不能精確地描述光源的光分布情況，這樣容易導致光源的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問題，甚至導致光源失效。因此很有必要利用顯微光分布測試系統對光源進行發光均勻度測試來優化光源設計。

針對以上情況，實驗室自主研發生產出顯微光分布測試系統，專注于LED產業改良打造，先已演化到第四代，而且價格從150萬降到幾十萬！訂貨期3個月，歡迎選購！

應用領域：
LED芯片電極設計、LED芯片規格電流優化、芯片出光率、LED芯片來料檢驗、LED芯片失效分析、燈珠燈具的光線追跡、面板燈發光均勻度、汽車照明燈發光均勻度、燈具發光均勻度。

近場光學設備與顯微光分布探頭對LED光敏感度差異對比：

顯微光分布探頭對光敏感度較高，能分辨細小的光強差異，因此成像也更細膩。

微光顯微鏡

顯微光分布與傳統設備大PK：

顯微光分布測試系統可模擬工作溫度進行測試，分辨率可達1微米，其具有3D功能，可觀測芯片出光效果。

設備測試原理：

用于測量光源的光強分布、直徑、發散角等參數。通過CCD測量光強分布，通過算法計算出光源直徑等參數。測量光強的相對強度，不需要使用標準燈進行校準。

系統特點:

1.模擬器件實際使用環境進行測試

LED光源的光熱性能受溫度的影響較大，脫離實際環境所測試的結果準確性較差，甚至毫無意義。而自主研發的顯微光分布測試系統配備有高低溫數顯精密控溫平臺，能穩定控制燈珠引腳和基板溫度，模擬實際使用環境進行測試，提供更為真實有效的數據。如下圖所示，固定其他條件不變，分別控制引腳溫度為80℃和120℃，測試得到的光分布圖，不同溫度下芯片的發光強度相差較大。該測試平臺還配備有水冷降溫系統，在100s內可將平臺溫度由100℃降到室溫，有效解決了樣品臺降溫困難的問題，該系統還可以穩定控制樣品臺溫度維持在0℃-室溫，適用于部分需要保持低溫工作的器件。

2.對LED芯片設計提供參考依據

技術背景：

當前，芯片廠在LED芯片電極圖案設計過程中，僅僅是針對芯片進行相對簡單的測量，獲得整體的亮度、波長和電壓等參數，并不能精確地描述芯片的光分布情況，這樣容易導致芯片的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問題。而由于缺乏專業的測試設備和測試經驗，LED芯片廠對芯片發光不均勻的現象束手無策，沒有直觀的數據支持，無法從根本上改進芯片品質。

實驗室顯微光分布測試系統，方便客戶了解芯片性能，認清芯片電極設計的方向。通過LED芯片發光均勻度測試，可以從特定角度拍攝芯片影像，建立一個芯片亮度輸出的發光圖像，接收被測芯片的光信號，提供芯片發光效果圖和光強數據。其中，芯片發光效果圖能直觀地體現出芯片發光的均勻程度，判斷電極圖案設計的優劣，明確改進方向，優化電極圖案。

發光均勻度評判電極圖案設計的優劣：

芯片的電極圖案對芯片的整體亮度、發光效率、電壓大小影響較大。根據芯片的發光均勻度進行電極圖案優化后，可以改善電流擴展分布能力，提高電流分布的均勻性，減小電流聚集效應，降低工作電壓，減小串聯電阻，減少焦耳熱的產生，減弱紅移現象，從而提升芯片的可靠性。

優化電極圖案的過程中，要兼顧電流擴展性和遮光面積。例如，對于電極圖案設計，可增加低亮度區域金手指的長度，來增加電流擴展性，提升低亮度區域的亮度；同樣，也可以縮小高亮地區的金手指寬度，減少該區域的電流擴展性，降低亮度，以達到提高芯片整體發光均勻度的目的。又例如，對于低亮度區域還可以設置電流擴展層或增加電流擴展層厚度，以增加電流擴展性；相反，對于高亮度就可以設置電流阻擋層來減小電流密度，以形成均勻分布的電流，同樣可以達到提高芯片整體發光均勻度的目的。一般，在發光均勻度滿足要求的情況下，要盡量減少遮光面積，提升發光效率。