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agleT-i是AOI市場上2D檢測速度快的設備之一，其中囊括了CAMTEK的機構、新的鏡頭、高速的傳輸信道。檢測原理與MVP有點類似，都是通過工業相機進行圖像...

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BVX-100臺式單用戶吸煙臂/壓力通風系統

PTC/PTTC 烙鐵頭 [焊接、拆焊和返修系統] 其他配件

SSC 烙鐵頭[焊接、拆焊和返修系統]SSC-671A 鑿型，（寬×長）SSC-771A 1.0 x 9.1 mm （.04“ x .36“）SSC-...

美國OKI/METCAL電烙鐵MX-500/MX-5200/MX-5000手柄線MX-RM3E

METCAL電烙鐵DFP-CN4/DCP-CN4/DFP-CN5/DCP-CN5/DFP-CN6詳細介紹

高性能電子束曝光機是一款高性能的納米光刻系統，擁有完整200mm尺寸的光刻能力，這款電子束光刻系統代表了不斷進化的高度成功和廣為市場接受的EBPG系列產品。

EBPG5150使用了155mm大小的樣品臺，采用跟電子束曝光機EBPG5200一樣的通用光刻平臺設計，

PIONEER Two將專業電子束曝光設備和電子成像系統所有的先進性能，融合成一套獨立的成套系統。多功能性、穩定性、用戶友好性操作，使PIONEER Two系統...

探索超越電子束曝光功能的納米工程系統超高分辨電子束曝光、成像及納米工程系統納米加工領域的瑞士

納米光刻技術在微納電子器件制作中起著關鍵作用,而電子束光刻在納米光刻技術制作中是的方法之一。先進納米科技提供;的電子束納米光刻（EBL）系統，或稱電子束直寫（E...

納米光刻技術在微納電子器件制作中起著關鍵作用,而電子束光刻在納米光刻技術制作中是的方法之一。日本CRESTEC公司為21世紀先進納米科技提供的電子束納米光刻（E...

電子束光刻系統特點1.采用高亮度和高穩定性的TFE電子槍2.出色的電子束偏轉控制技術3.采用場尺寸調制技術，電子束定位分辨率（address size）可達0....

探針式表面輪廓儀在嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片及面...

Dektak XTL 嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片...

Dektak XTL 嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片...

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術。從傳統的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應力測試，Dektak臺...

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術。從傳統的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應力測試，Dektak臺...

ContourGT-K 3D光學顯微鏡是表面輪廓儀功能和價值的標準。該系統具有各種2D / 3D測量，高分辨率成像和用戶友好的界面，該系統以緊湊的封裝和緊湊的占...