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岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司

  • 自動(dòng)化高速薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-Scanner
    薄膜厚度測量的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動(dòng)高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:09:4810254
  • Thetametrisis膜厚測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-pRo
    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺的光學(xué)測量設(shè)備,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
    型號: FR-pRo 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:10:0813012
  • 全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測量 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-Mic
    FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,可以將光斑縮小到幾個(gè)微米,進(jìn)而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。
    型號: FR-Mic 品牌:ThetaMetrisis所在地:東莞市 對比
    多層膜厚度測試Thetametrisis膜厚儀FR-Mic um級薄膜表征全自動(dòng)顯微鏡多點(diǎn)測量
    2024/11/9 14:10:075537
  • 全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測量膜厚儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-Mic
    硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。
    型號: FR-Mic 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2024/11/9 12:28:3410311
  • 光學(xué)顯微鏡適配器 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-uProbe-LC
    FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用,例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標(biāo)即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區(qū)域薄膜厚...
    型號: FR-uProbe... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀拓展工具測量
    2024/11/9 16:27:20908
  • FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動(dòng)薄膜厚度測繪系統(tǒng),用于全自動(dòng)圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動(dòng)X-Y載物臺提供適用尺寸 ...
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀薄膜厚度測繪微米級
    2024/11/9 16:23:41955
  • UltraFilm薄膜測量系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù),是國內(nèi)可以...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    薄膜測量同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測
    2024/11/26 17:16:591534
  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 (SD-OCT) 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動(dòng)控制平臺相結(jié)合,可以在高達(dá) ...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:44:271805
  • FR-Mic:全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測量膜厚儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2024/11/9 15:28:141100
  • FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺的光學(xué)測量設(shè)備,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:26:251394
  • FR-Scanner:自動(dòng)化高速薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動(dòng)高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:24:541173
  • FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測量儀(膜厚儀),可進(jìn)行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜厚度測量儀膜厚儀FR-InLine岱美儀器
    2024/12/18 14:04:391272
  • -自動(dòng)化高速薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動(dòng)高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:21:02575
  • 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-Ultra
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
    型號: FR-Ultra 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:19:311032
  • 精簡薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-ES
    FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。
    型號: FR-ES 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜測厚儀
    2024/11/9 15:17:031096
  • FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:52:431446
  • 自動(dòng)化高速薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動(dòng)高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:43:501826
  • 硅片厚度測量 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:Filmetrics F3-sX
    硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度,因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。
    型號: Filmetric... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    硅片厚度測量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀膜厚儀
    2024/11/9 17:02:383042
  • Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測量儀可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度,可測大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:22:523768
  • Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實(shí)時(shí)厚度信息。
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:50:163080
  • Filmetrics F60高級光譜反射系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動(dòng)R-Theta平臺自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn),并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測量。 選擇數(shù)十種預(yù)定義的極坐標(biāo),矩形或線性地圖...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:48:262147
  • Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)45...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:46:332475
  • Filmetrics F54薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:19:073893
  • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號:
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時(shí)收集反射與透射光譜,不到一秒鐘的時(shí)間,陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:43:012500

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