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岱美儀器技術服務（上海）有限公司

TECHNOLOGY

當前位置：岱美儀器技術服務（上海）有限公司>>技術文章

  • 2025

    03-24

    橢圓偏振儀揭秘薄膜微觀世界

    橢圓偏振儀作為現代材料表征的重要工具，通過光與物質的相互作用，為薄膜厚度和光學常數的精確測量提供了特殊的解決方案。這種非破壞性測量技術能夠解析納米級薄膜的特性，在半導體、光學鍍膜和材料科學研究中發揮著...

  • 2025

    03-21

    晶圓水平儀在自動化產線中的實時質量控制

    在半導體制造的自動化產線中，晶圓水平儀是確保晶圓表面平整度、提升工藝穩定性的關鍵設備。它通過高精度傳感器與智能算法，實時測量晶圓表面起伏，并將數據反饋至制造設備，形成閉環質量控制。晶圓水平儀的核心優勢...

  • 2025

    03-18

    振動克星之主動隔振臺的精密控制之道

    在現代精密工程和科學研究中，主動隔振臺扮演著至關重要的角色。這種高科技設備通過精密的傳感器網絡和先進的控制算法，為精密儀器創造了一個近乎靜止的工作環境，使其能夠在納米尺度上進行精確操作和測量。主動隔振...

  • 2025

    02-28

    高精度主動減振臺的原理探秘

    在眾多對振動控制要求較高的領域，如精密儀器制造、光學實驗、航空航天等，高精度主動減振臺發揮著至關重要的作用。那么，它是基于怎樣的原理來實現高效減振的呢？高精度主動減振臺的核心原理是實時監測和主動控制。...

  • 2025

    02-25

    解析折射率測量儀：光學物性檢測的關鍵設備

    在現代科學和工業領域，對物質光學性質的精準檢測至關重要。而折射率測量儀，作為一種非常重要的光學物性檢測設備，發揮著不可替代的作用。折射率測量儀的核心原理基于光的折射現象。當光線從一種介質進入另一種介質...

  • 2025

    02-24

    光學膜厚測量儀的工作原理與優勢

    光學膜厚測量儀的工作原理與優勢分析如下：工作原理光學膜厚測量儀的工作原理主要基于光的干涉和反射原理。當光源發出的光波照射到被測膜層時，一部分光波會在膜層表面反射，另一部分光波會穿透膜層并在膜層與基底的...

  • 2025

    02-20

    紅外激光測厚儀使用指南：精準測量，輕松掌握

    紅外激光測厚儀作為一種非接觸式測量儀器，以其高精度、高效率的特點，廣泛應用于薄膜、涂層、金屬板材等材料的厚度測量。為了幫助您更好地使用紅外激光測厚儀，本文將詳細介紹其使用方法，助您輕松掌握測量技巧。一...

  • 2025

    01-17

    膜厚測量儀的操作規范與安全注意事項

    膜厚測量儀是科研、工業生產及質量控制等領域中用于精確測量薄膜、涂層或其他薄層材料厚度的關鍵工具。為確保測量結果的準確性和操作人員的安全，使用儀器時必須嚴格遵守操作規范和安全注意事項。在操作規范方面，首...

  • 2025

    01-16

    晶圓水平儀技術解析：從原理到應用的全面探討

    晶圓水平儀是半導體制造中的高精度測量工具。其工作原理基于精密的傳感器和算法，能夠實時測量晶圓表面的微小起伏，確保晶圓在加工過程中的水平狀態。晶圓水平儀的核心在于其高精度的傳感器。這些傳感器能夠捕捉到晶...

  • 2025

    01-09

    膜厚測量儀：精確測量薄層材料厚度的關鍵工具

    膜厚測量儀是一種廣泛應用于科研、工業生產和質量控制領域的精密儀器，其主要功能在于準確測量薄膜、涂層或其他薄層材料的厚度。這種儀器在多個行業中發揮著至關重要的作用，為產品的性能評估和質量控制提供了有力支...

  • 2024

    12-27

    電鏡防振臺一款消除低頻共振干擾的儀器

    在科研和工業檢測領域，電子顯微鏡作為探索微觀世界的得力工具，其性能的穩定性和精確度至關重要。然而，在實際應用中，電子顯微鏡往往會受到各種振動干擾，尤其是低頻共振頻率的干擾，這會嚴重影響其成像質量和測量...

  • 2024

    12-23

    晶圓水平儀在半導體制造中的應用

    晶圓水平儀在半導體制造中扮演著至關重要的角色。作為一種精密的測量工具，晶圓水平儀主要用于測量和調整晶圓表面的平整度，確保半導體制造過程中的精確度和穩定性。在半導體制造過程中，晶圓是制造半導體集成電路的...

  • 2024

    11-13

    防震臺VC微振等級判定及其重要性

    防震臺作為科研實驗和精密設備中至關重要的重要設施，廣泛應用于各種高精度測試與實驗中。為了確保測試結果的準確性和設備的穩定性，其微振控制成為了一個至關重要的因素。VC微振等級判定就是衡量防震臺抗震和微振...

  • 2024

    11-01

    動態激光干涉儀的應用及作用

    動態激光干涉儀是一種高精度的光學測量儀器，主要用于測量光學元件的表面形貌、材料的熱膨脹系數、機械應力場等。該儀器基于干涉原理，通過激光光束的干涉效應來實現對被測對象的測量和分析。它廣泛應用于工業生產、...

  • 2024

    11-01

    如何選購一款合適的晶圓水平儀

    晶圓水平儀是一種用于測量和調整晶圓表面平整度的重要設備，在半導體制造、光學元件生產等領域具有廣泛的應用。以下是詳細的選購要點描述：1.精度要求-測量精度：晶圓水平儀的核心指標是其測量精度。高精度的晶圓...

  • 2024

    10-09

    電容式位移傳感器的校準流程

    電容式位移傳感器是一種基于電容原理工作的精密測量儀器，廣泛應用于各種工業領域，如振動監測、距離測量、液位檢測等。由于其高精度和快速響應的特點，電容式位移傳感器在校準過程中需要特別細致和精確。以下是關于...

  • 2024

    09-04

    光學粗糙度測試儀的養護有哪些要點

    光學粗糙度測試儀是一種用于測量材料表面粗糙度的精密儀器，其準確性和穩定性對于保障產品質量至關重要。以下是關于光學粗糙度測試儀養護方式的相關描述：1.環境要求：光學粗糙度測試儀應放置在無塵、恒溫恒濕的環...

  • 2024

    08-06

    操作白光干涉儀的正確方式有幾點

    白光干涉儀是一種利用白光干涉原理進行高精度測量的儀器，廣泛應用于光學元件、半導體材料、金屬材料等的微觀形貌和膜層厚度測量。為了確保白光干涉儀的測量準確性和設備穩定性，以下是一些使用注意事項：1.環境條...

  • 2024

    07-11

    薄膜應力測試儀的結果受到哪些因素影響

    薄膜應力測試儀是一種用于測量薄膜材料內部應力的儀器。這種應力對于薄膜的性能和可靠性具有重要影響，因此準確測量薄膜應力是非常重要的。然而，薄膜應力測試儀的結果可能會受到多種因素的影響。以下是一些可能影響...

  • 2024

    06-14

    紅外激光測厚儀的結果受到哪些方面影響

    紅外激光測厚儀是一種使用激光技術對材料厚度進行無損檢測的儀器。它通過測量激光在材料中的傳播時間或相位變化來確定材料的厚度。盡管紅外激光測厚儀具有高精度和高重復性，但其測量結果仍可能受到多種因素的影響。...
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