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半導體制造技術中的快速進步依賴敏捷而可靠的氣體分析解決方案。在工廠或實驗室中，選擇分析質譜儀以突破檢測障礙并促使您的過程進入更高層次的創新的模塊化設計帶來的性能和適應性。利用 增強競爭優勢，獲得出眾的測量能力。
產品簡介
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INFICONQMA410分析質譜儀 INFICONQMA410分析質譜儀 INFICONQMA410分析質譜儀
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用于正負離子以及中性粒子分析的離子計數前置放大器 IO 選項:8 個模擬輸入/輸出和 32 個數字輸入/輸出 采用靈活且用戶友好界面的強大軟件 典型應用 氣體排放質譜儀 終點檢測 沉積材料監控 二次離子質譜儀
公司經營品牌：GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,HBM,Tektronix,BEAMEX,SIKA,E+E，美國華瑞RAE,梅思安MSA，德爾格Draeger，德國IKA，美國奧豪斯，美國哈希hach,安捷倫等品牌，派克Parker,阿托Atos,力士樂Rexroth,哈威Hawe，德國KK,英國Time Electronics,美國斯坦福,英國密其，德國LR-Cal,德國Schleich,澳大利TPS,德國卡爾德意志等進口品牌