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詳細摘要： 二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學和工業應用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統光學顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產生各種信號，被檢測到并轉換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態進行詳細檢查。SEM的主要優點之一是能夠實現高分辨率成像。

詳細摘要： 二手蔡司場發射電鏡：具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。

詳細摘要： 二手蔡司冷場電鏡，二手熱場場發射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。

詳細摘要： 二手蔡司場發射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結構信息

詳細摘要： 二手蔡司場發射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產品配備有經過改進的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內二次電子探測器。SUPRA™系列場發射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導體事業部的納米技術系統部向市場推出的功能最多的場發射掃描電子顯微鏡。具有當前儀器所具有的所有特征：如在圖像質量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩定性、全分析型樣品室。

詳細摘要： 二手蔡司場發射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。

詳細摘要： 二手電鏡二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發射出的電流激發到樣品表面產生二次電子，通過信號收集和信號轉換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現對樣品表面的形貌的觀察。

詳細摘要： 供應日立（二手）場發射掃描電鏡SEM 430型號掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場發射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實現高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測。配備兩種物鏡模式（浸沒式和無場式）。配備紅外CCD檢測相機，極靴內二次電子檢測器，通用ET二次電子檢測器，低真空二次電子檢測

詳細摘要： 二手高分辨率場發射電鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。

詳細摘要： 二手場發射顯微鏡SEM場發射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分分析，具有形貌、化學組分綜合分析能力。

詳細摘要： 二手場發射電鏡，二手SEM場發射掃描電鏡通用性強，可廣泛應用于納米材料、金屬材料、半導體材料、化學化工、醫學及生物學領域，可高效觀察包括非導體樣品及強磁性樣品等。

詳細摘要： 二手日立場發射電鏡：貨供應二手掃描電鏡,二手場發射電鏡,二手透射電鏡S-9300，S-9380，S-806C，H-7100，S-4700，S-4200，S-4160，S-3000N，S-2700，S-2400，TM-1000；臺式，桌面式Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope

詳細摘要： 二手電鏡JSM-6510功能/應用范圍：應用于無機材料、高分子材料、復合材料、納米材料、半導體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結構觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質分析 ? 微區成份分析；材料分析，檢測機構，研發企業。