供應日立（二手）場發射掃描電鏡SEM 430型號掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場發射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實現高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測。配備兩種物鏡模式（浸沒式和無場式）。配備紅外CCD檢測相機，極靴內二次電子檢測器，通用ET二次電子檢測器，低真空二次電子檢測

供應日立（二手）場發射掃描電鏡技術參數：

◆ 電子槍：冷陰極場發射電子源

◆ 分辨率：1.0 nm 保證 ( 加速電壓 15 kV，WD = 4 mm )，1.4 nm 保證 ( 加速電壓 1 kV，WD = 1.5 mm，減速模式 )，2.0 nm 保證 ( 加速電壓 1 kV，WD = 1.5 mm，普通模式 )  

◆ 放大倍數：20 - 800,000

◆ 冷凍傳輸設備：冷臺溫度 190 - 130 ℃ ，可進行冷凍斷裂和噴金

儀器主要功能及應用：

主要功能

◆ 新型物鏡采用EXB設計。使用單檢測器和超級EXB可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號

◆ 1 KV低加速電壓時保證有2.0 nm的分辨率

◆ 兩種樣品臺可選：I型50 mm × 50 mm小樣品臺或II型110 mm × 110 mm大樣品臺

◆ 包括渦輪分子泵在內的*進的真空系統

◆ 便于用戶使用的、基于圖形用戶界面的控制系統，包含多種自動功能，操作簡易

儀器使用步驟及注意事項:

1. 開機

a. 檢查真空、循環水狀態。

b. 開啟“Display"電源。

c. 根據提示輸入用戶名和密碼 ( 出廠設置為空 )  ，啟動電鏡程序。

2. 樣品放置、撤出、交換

a. 嚴格按照高度規定高樣品臺，制樣，固定。

b. 按交換艙上“Air"鍵放氣，蜂鳴器響后將樣品臺放入，旋轉樣品桿至“Lock"位，合上交換艙，按“Evac"鍵抽氣，蜂鳴器響后按“Open"鍵打開樣品艙門，推入樣品臺，旋轉樣品桿至“Unlock"位后抽出，按“Close"鍵。

3. 觀察與拍照

a. 根據樣品特性與觀察要求，在操作面板上選擇合適的加速電壓與束流，按“On"鍵加高壓。

b. 用滾輪將樣品臺定位至觀察點，擰Z軸旋鈕 ( 3軸馬達臺 )  或在操作界面中調整樣品臺高度 ( 5軸馬達臺 )  。

c. 選擇合適的放大倍數，點擊“Align"鍵，調節旋鈕盤，逐步調整電子束位置、物鏡光闌對中、消像散基準。

d. 在“TV"或“Fast"掃描模式下定位觀察區域，在“Red"掃描模式下聚焦、消像散，在“Slow"或“Cssc"掃描模式下拍照。

e. 選擇合適的圖像大小與拍攝方法，按“Capture"拍照。

f. 根據要求選擇照片注釋內容，保存照片。

4. 關機

a. 將樣品臺高度調回80 mm。

b. 按“Home"鍵使樣品臺回到初始狀態。

c. “Home"指示燈停止閃爍后，撤出樣品臺，合上樣品艙。

d. 退出程序，關閉“Display"電源。

5. 注意事項

a. 每天第一次加高壓后，做一次Flashing。

b. 冷場發射電鏡一般不斷電，如遇特殊情況需要大關機時，依次關閉主機正面的“Stage"電源、“Evac"電源，半小時后關閉離子泵開關和顯示單元背面的三個空氣開關，關閉循環水。開機時順序相反。

供應日立（二手）場發射掃描電鏡儀器功能和附件

功能：

1）觀察高分辨的微觀結構與形貌；

2）能譜用于材料的微區成分定性、定量分析；

附件：

能譜儀、英國Quorum離子濺射儀、臨界點干燥儀

儀器使用范圍

廣泛應用于材料、生命科學、醫學、物理、地礦、化工、化學、冶金、機械、制藥等多個領域的科學研究和質量檢測。