目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>光學(xué)測(cè)量系列>>探針臺(tái)>> FPUNI-USM1400-4P超高真空超低溫四探針SPM
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更新時(shí)間：2024-08-01 09:49:13瀏覽次數(shù)：362評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子 |
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這超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計(jì)的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術(shù)。
這超高真空超低溫四探針SPM采用四個(gè)獨(dú)立控制的探針掃描顯微鏡，用于器件評(píng)價(jià)和超低溫等寬溫度范圍內(nèi)的微納尺度表面電導(dǎo)率測(cè)量。
超高真空超低溫四探針特征
利用SEM實(shí)現(xiàn)納米級(jí)定位
每四個(gè)探針都有STM/AFM功能
納米尺度四端電導(dǎo)測(cè)量
分子束外延超高真空室
準(zhǔn)備好進(jìn)行光輻照、發(fā)射測(cè)量、高頻測(cè)量
孔效應(yīng)，自旋測(cè)量適用于使用超導(dǎo)線(xiàn)圈（可選）
用微納米尺度測(cè)量導(dǎo)電薄膜的四端電阻率
納米結(jié)構(gòu)和納米點(diǎn)的電導(dǎo)率測(cè)量
有機(jī)導(dǎo)電層和半導(dǎo)體電導(dǎo)率的溫度依賴(lài)性測(cè)量
納米器件的局部電特性分析
不同溫度下的STM成像
廣泛應(yīng)用于表面分析
分辨率: XY<2pm, Z<0.2pm
磁場(chǎng)：無(wú)
高真空：<10^-8Pa
超低溫：3-100K可調(diào)溫度
STM: 可選配
其它：可以配備安裝透鏡，用于連接其它光學(xué)儀器
| 四探針STM頭 | |
| 最大掃描范圍 (X×Y×Z) | 0.38 × 0.38 × 0.38 µm3 @ 5 K |
| 最小分辨率（STM) | X, Y: 0.1 nm (Atomic resolution) Z: Under 0.02 nm |
| 樣品和探針臺(tái) | MAX range X, Y: 5 mm; Z: 3 mm |
| FE-SEM | |
| 最小分辨率 | 20 nm (acceleration voltage 25 kV, WD 15 mm, probe current 1 nA) MAX field of view 3 mm × 3 mm (acceleration voltage 5 kV) |
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