首頁(yè)>>孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學(xué)測(cè)量系列>>晶圓測(cè)試儀器
高壓濺射PVD物理氣相沉積系統(tǒng) 參考價(jià)：550000
高壓PVD系統(tǒng)配置適合在晶圓濺射金屬膜,磁性材料,多組分氧化物,得益于它靈活的配置和特殊的晶圓加熱器設(shè)計(jì),PVD可以在溫度最高900℃的襯底上濺射金屬膜層和磁性...
電子束蒸發(fā)鍍膜系統(tǒng) 參考價(jià)：1200000
電子束蒸發(fā)系統(tǒng)是按照“從實(shí)驗(yàn)室到工廠"的方法設(shè)計(jì)的電子束鍍膜蒸發(fā)系統(tǒng),既適用于密集的研發(fā)活動(dòng)，也適用于中試生產(chǎn)。
晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance 參考價(jià)：面議
晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)...
晶圓厚度變化測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測(cè)量?jī)xMX10x系列是德國(guó)測(cè)量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達(dá)10nm，可以在幾秒鐘內(nèi)適應(yīng)不同的厚度范圍。
硅片TTV厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測(cè)試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測(cè)量?jī)x，能夠精確測(cè)量硅片厚度和測(cè)量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測(cè)量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測(cè)試...
硅片TTV厚度測(cè)試儀,測(cè)量硅片厚度 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測(cè)試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測(cè)量?jī)x，能夠精確測(cè)量硅片厚度和測(cè)量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測(cè)量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測(cè)試...
玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x是大尺寸玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x和玻璃彎曲度測(cè)試儀,廣泛用于翹曲度測(cè)量,彎曲度測(cè)量,表面形貌測(cè)量和鍍膜測(cè)量等。,玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x,玻璃彎曲度測(cè)試儀由...
晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款多功能晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x是為晶圓生產(chǎn)線上自動(dòng)晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)計(jì)的大型自動(dòng)晶圓測(cè)量?jī)x器,具有晶圓厚度測(cè)量,晶圓翹曲度測(cè)量,晶圓BOW/WARP測(cè)量,晶圓wave...
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀是專用為晶圓品質(zhì)檢驗(yàn),測(cè)量少子壽命,測(cè)量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測(cè)試儀器
晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x是專業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的少子壽命測(cè)試儀器。
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀是為晶圓晶錠測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測(cè)試儀器。采用非接觸式檢測(cè)和無(wú)損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
這款溫度型少子壽命測(cè)試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的溫度決定型少子壽命測(cè)定儀器。
自動(dòng)晶圓傳送機(jī) 參考價(jià)：面議
自動(dòng)晶圓傳送機(jī)是自動(dòng)把FOUP盒晶圓傳送給FOSB盒的設(shè)備。mapped晶片在晶圓盒中緩慢地整體提升；最大限度地減少與晶圓框架盒的接觸，消除顆粒、磨損或晶片邊緣...
批量晶圓ID讀取器 參考價(jià)：面議
批量晶圓ID讀取器WMS讀取waferLot晶圓組的waferID碼。可以讀取所有25個(gè)晶片或單個(gè)晶片以進(jìn)行晶片跟蹤。
晶片背襯薄膜涂布機(jī) 參考價(jià)：面議
晶片背襯薄膜涂布機(jī)UH108是Ultron Systems晶圓Backlapping Film減薄涂膜機(jī),滿足正面保護(hù)膠膜貼膜的應(yīng)用要求,具有高度的可重復(fù)精度,...
全自動(dòng)晶圓曝光機(jī) 參考價(jià)：面議
全自動(dòng)晶圓曝光機(jī)UH204是Ultron Systems紫外線固化機(jī),作為全自動(dòng)UV曝光設(shè)備,具有高效率和成本效益。
晶圓擴(kuò)片機(jī) 參考價(jià)：面議
晶圓擴(kuò)片機(jī) UH132 Die Matrix Expanders是Ultron Systems電機(jī)驅(qū)動(dòng)晶圓die擴(kuò)膜擴(kuò)展器,專業(yè)為晶片擴(kuò)展和die晶粒展示而設(shè)計(jì)...
半自動(dòng)晶片清洗系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)晶片清洗系統(tǒng)UH119的非接觸清洗功能主要針對(duì)切割后晶圓應(yīng)用而設(shè)計(jì)，利用可變循環(huán)高壓清洗，實(shí)現(xiàn)高效、快速的晶片清洗。
半自動(dòng)晶圓清洗機(jī) 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)晶圓清洗機(jī)UH117型是半自動(dòng)晶片清潔系統(tǒng),專業(yè)為為鋸切或劃線后的晶片清潔而設(shè)計(jì)。
太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試系統(tǒng)是專業(yè)為光伏器件特性測(cè)量設(shè)計(jì)的太陽(yáng)能電池i-v測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量太陽(yáng)能電池的電流-電壓曲線，然后自動(dòng)計(jì)算關(guān)鍵器件屬性。此外，I-V測(cè)量可以隨...
太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀能夠高精度高效率地測(cè)量太陽(yáng)能I-V曲線和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測(cè)量傳統(tǒng)太陽(yáng)能電池和背接觸太陽(yáng)能電池。
Suns-Voc后擴(kuò)散測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
Suns-Voc后擴(kuò)散測(cè)試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過程控制。
高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀能夠高精度測(cè)量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍。
晶圓裝卸操作臺(tái) 參考價(jià)：面議
晶圓裝卸操作臺(tái)是專業(yè)為4英寸晶圓裝卸,晶圓搬運(yùn),晶圓取放等晶圓操作操縱設(shè)計(jì)的晶圓裝卸定位臺(tái)系統(tǒng)。它采用XYZ三維定位臺(tái)和360度旋轉(zhuǎn)臺(tái)集成而成。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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