Tm:YAG晶體,進口TmYAG晶體,銩晶體棒 參考價：12000
Tm:YAG晶體,進口TmYAG晶體,銩晶體棒,Tm:YAG晶體具有2微米波長銩激光源的理想銩晶體棒介質。Tm:YAG晶體的H4和F4能級的自淬滅機制可在上能級...
裸光纖拋光機,研磨機 參考價：面議
裸光纖拋光機用于拋光裸光纖,使用工件架和適配器后能以0到50度的可變角度拋光光纖。可以加工從標準單模到PM光纖，從藍寶石到PCF的各種光纖類型。可對直徑從80微...
波導拋光機,芯片磨拋機 參考價：面議
波導拋光機FLex是為光學芯片拋光設計的PIC芯片磨拋機,能夠拋光各種波導組件，如PLC、PIC光學芯片和光纖陣列。它可以容納各種尺寸的組件,具有可變角度拋光的...
光纖端面檢測成像儀 參考價：面議
光纖幾何參數檢測儀FGC-GT可測量光纖尺寸,可測量直徑達400µm的光纖幾何結構,可對光纖端面成像,適用于測量直徑小于等于400µm光纖的...
光纖幾何尺寸測試儀 參考價：面議
光纖幾何尺寸測試儀FGC-GS可測量多模光纖芯徑,包層直徑,纖芯圓度,包層圓度,芯到包層同心度等指標,可測量直徑達1000µm的多模光纖幾何結構參數,...
光纖特征參數測量儀 參考價：面議
光纖特征參數測量儀是一種多功能光纖幾何參數測量儀器,一臺這樣的儀器可以測量光纖v型槽塊幾何形狀,芯對芯間距和芯X、Y偏移量,適合寬度高達15mm的多光纖陣列,具...
光纖端面檢測干涉儀 參考價：面議
光纖端面檢測干涉儀VFI-200是一種干涉檢測系統,用于檢查切割或拋光光纖的表面質量和平整度。光纖端面檢測干涉儀廣泛用于科學實驗,光纖生產等領域。
光纖連接器端面測試干涉儀 參考價：面議
光纖連接器端面測試干涉儀FiBO®200是經濟型的光纖接頭端面分析測量儀器。具有光纖接頭高分辨率3D表面計量和自動缺陷檢測功能。可在生產現場或現場快速...
光纖連接器端面檢測儀,光纖接頭端面干涉儀 參考價：面議
光纖連接器端面檢測儀FiBO®250是光纖接頭端面干涉儀是對,可提供高分辨率3D表面計量和自動缺陷檢測結合。
光纖端面幾何測量儀,相移干涉儀 參考價：面議
光纖端面幾何測量儀FiBO®300是一種多功能phase-shifting相移干涉儀，用于對裸光纖和非標準光纖連接器的光纖端面幾何結構測量分析。可變光...
光纖端面檢測儀顯微鏡 參考價：面議
光纖端面檢測儀顯微鏡SpecVision™ 是光纖檢測視頻顯微鏡和光纖端面成像檢查儀器，可直接與Krell拋光機配合使用，可以在連接器或裸光纖仍裝載...
光波元器件分析儀,插入損耗測試儀 參考價：面議
光波元器件分析儀是為無源光學元件模塊設計的光波分析儀器,旨在測量并分析在反射或透射中工作的插入損耗（IL）和返回損耗（RL）分布以及長度。
光纖模式模態控制器 參考價：面議
光纖模式控制器ModCon Aerospace是為航空航天光纖損耗測試和光纖帶寬測試設計的多模光纖模式控制器,旨在確保無論您使用不同源（LED、激光、OTDR或...
850nm/1300nm光纖測試光源 參考價：面議
850nm/1300nm光纖測試光源是為多模光纖損耗測試設計的光纖損耗測試LED光源,與光功率計一起用于多模光纖系統損耗測量,應用于需要85/85%有限相空間模...
光纖環形通量測試儀 參考價：面議
MPX-1可實時測量光纖Encircled Flux（光纖EF）,只需將光纖信源和跳線連接到光纖環形通量測試儀MPX上,就能實時測量光纖模態發射狀況Modal ...
光纖Encircled Flux測量儀 參考價：面議
MPX-2可實時測量光纖環形通量EF,只需將光纖信源和跳線連接到光纖Encircled Flux測量儀MPX上,就能實時測量光纖模態發射狀況Modal Laun...
多模光纖散斑抑制器 參考價：面議
MPX-SR3專業為減少抑制多模光纖散斑而設計的光纖振動器fiber shaker,非常適合透射光源在多模光纖傳輸中減少散斑的應用。
光纖折射率分布分析儀 參考價：面議
這臺光纖折射率分布分析儀可測量光纖折射率分布剖面,而不需要在375nm~2um波長處切割,適合任意光纖剖面測量。多波長設計，不需要切割，亞微米空間分辨率，適合任...
光纖光譜衰減損耗測試儀 參考價：面議
光纖光譜衰減損耗測試儀FSL300系統提供了準確的光纖光譜損耗測量辦法,在光纖質量控制過程、材料研究和光纖開發方面至關重要。
光纖色散測量儀 參考價：100000
這款光纖色散測量儀是為光纖色散分析應用設計的光纖色散分析儀器,采用inometrix的Virtual Reference干涉儀技術,可與Agilent/Keys...
光纖色散測試儀 參考價：面議
光纖色散測試儀CD500是為光纖色散測量設計的色散測量系統,具有測量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產檢測。
PMD偏振模色散測試儀 參考價：面議
PMD偏振模色散測試儀是為偏振模色散PMD測量設計的雙折射色散測量儀器。PMD偏振模色散測試儀根據兩種偏振態的有效折射率（雙折射）不同，沿光纖長度隨機變化分析測...
光纖光譜衰減測量儀 參考價：面議
光纖光譜衰減測量儀SA500HD是為光纖衰減測量設計的光纖衰減測試儀器,利用DSP和固態單色儀技術測量光纖光譜損耗對波長的變化。高動態范圍允許測試現在在中發現的...
模場直徑有效面積測量系統 參考價：面議
模場直徑有效面積測量系統是pe.fiberoptics公司光纖模場直徑測試和光纖有效面積分析測量設計的MFD和Aeff測試儀器。
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