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光電測試探針臺,晶圓光電流測試 參考價：面議
這款光電測試探針臺是專業為8英寸和12英寸晶圓光電流測試設計的專業半自動變溫光電探針臺,可滿足8英寸和12英寸晶圓變溫光電測試需要,測試溫度范圍-60~350℃...
進口晶圓測試探針臺 參考價：面議
這款手動晶圓測試探針臺是專業為晶圓測試設計的專業手動探針臺,可滿足6英寸,8英寸和12英寸晶圓測試需要,測試溫度范圍室溫~350℃,特別適合高溫和低溫環境下晶圓...
四點探針系統 參考價：面議
這款四點探針系統用于快速測量材料的片電阻、電阻率和電導率。系統包括一個四點探針、源測量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
微探針系統 參考價：面議
這款微探針系統micro probe是為材料光學特性和電特性測試設計的納米級微納探針儀器,可以結合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環境條件下現場測試材料電學和光學特性...
納米操縱系統 參考價：面議
納米操縱系統采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
范德瓦爾斯轉移臺 參考價：面議
范德瓦爾斯轉移臺VAN DER WAALS是為半導體芯片不同材料在位置的堆積過程研究設計的范德瓦爾斯位移臺。
高壓探針臂,高壓電流探針測試,probe arm 參考價：面議
這款高壓探針臂 probe arm也是大電流探針臂,可加持各種探針,滿足20KV和200A的高壓電流探針測試。
三軸探針臂,同軸探zhen臂,probe arm 參考價：面議
三軸探針臂,同軸探針臂是為探針測量專用三軸探針夾具,Triaxial probe arm.
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