當前位置:> 供求商機> Photomask Blanks缺陷檢查 LODAS™ – BI8
當前位置:> 供求商機> Photomask Blanks缺陷檢查 LODAS™ – BI8
當前位置:> 供求商機> Photomask Blanks缺陷檢查 LODAS™ – BI8
特征:
可檢查鉻膜、半色調膜、光阻膜
白缺陷、黑缺陷的自動判別
不僅是表面缺陷,內部缺陷和背面缺陷也同時檢查。
有助于缺陷分析的4種Review圖像。
“AI Classify"進行缺陷分類、好壞判定。
免維護。
世界FIRST使用反射散射光、透射散射光、共聚焦光的混合檢查裝置。
能檢出至今為止檢查不出的缺陷。
檢出缺陷:顆粒、劃痕、凹坑、氣泡。
規格:
檢查激光:405nm 200mW LaserDiode
檢查時間:180sec
檢查對象:6英寸 Photomask blanks
設備尺寸:WxDxH=450x500x730mm
使用電源:AC100V~200V 10A
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。