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藤田(重慶)精密儀器設備有限公司
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當前位置:藤田(重慶)精密儀器設備有限公司>>檢測、計量類>>日本Otsuka大塚>> OPTM series 嵌入型日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series

日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series

參   考   價: 2000

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價以合同協議為準

產品型號OPTM series 嵌入型

品       牌OTSUKA/日本大塚

廠商性質經銷商

所  在  地重慶市

更新時間:2025-04-10 10:10:14瀏覽次數:115次

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產地類別 進口 應用領域 綜合
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series
可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位
具有形狀的樣品也可非破壞的測量

可攜帶至現場的手持式

日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 
● 可測量0.1μm單位

● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量

● 不論基材材質、可測量其鍍膜

日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM series 
與桌上型光學膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現場"以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,也不會因用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不需要制作檢量線,且可以量測非金屬基材并且得到絕對值!

非接觸式載臺

對于濕膜或半導體晶圓等不想接觸的樣品,可以通過自由設定探頭位置進行非接觸測量。

產品開發-量測試作品

1.攜帶到合作廠商等,直接在現場量測效率Up

2.試作階段的檢查方法商定效率Up



規格樣式

量測原理

反射分光法(光干涉法)、非破壞性量測

膜厚量測范圍

1~50μm(顯示上限60μm)

重復精度

2.1σ 0.01μm(SiO2膜1μm)

量測時間

1秒內

量測層數

1層

數據輸出

附屬操作屏幕顯示或以USB輸出Excel檔案

量測Spot

Φ1mm以下

重量

約1.1kg


選配

筆型探頭

能夠測量狹窄區域或形狀的樣品。 探頭端Φ6mm。



膜厚測量范圍

1μm~50μm

測量重復性

0.01μm

測量時間

1秒以下






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