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日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM 系列可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量

Otsuka大塚高感度分光輻射亮度計 HS-1000可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量

日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀OPTM-H3可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量

日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM-H2可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量

日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 OPTM-H1可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量

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日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 SF-3可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量

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日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀Smart 可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測量

KANOMAX加野粒子計數器超小型3950-00技術革新，致輕、致小，實現了嵌入組裝在半導體制造等裝置中2.83L/min，同時測試0.1、0.3μm微小粒子4...

KKANOMAX加野遠程塵埃粒子計數器3720-06具有標準Modbus協議及4~20mA模擬輸出功能 兩種粒徑同時測試0.3、0.5μm或0.5、5.0μm

KKANOMAX加野遠程塵埃粒子計數器3719-A具有標準Modbus協議及4~20mA模擬輸出功能 兩種粒徑同時測試0.3、0.5μm或0.5、5.0μm

KKANOMAX加野遠程塵埃粒子計數器3718-A具有標準Modbus協議及4~20mA模擬輸出功能 兩種粒徑同時測試0.3、0.5μm或0.5、5.0μm

日本KANOMAX加野標準粒子發生裝置F9532 同時監測0.3、0.5、5.0μm或0.3、0.5、1.0、3.0、5.0、10.0μm粒子 4.3inch真...

日本KANOMAX加野標準粒子發生裝置F9531 同時監測0.3、0.5、5.0μm或0.3、0.5、1.0、3.0、5.0、10.0μm粒子 4.3inch真...

KANOMAX加野粒子計數器 遠程塵埃3715-06D 同時監測0.3、0.5、5.0μm或0.3、0.5、1.0、3.0、5.0、10.0μm粒子 4.3in...

KANOMAX加野粒子計數器 遠程塵埃3715-06 同時監測0.3、0.5、5.0μm或0.3、0.5、1.0、3.0、5.0、10.0μm粒子 4.3inc...

KANOMAX加野粒子計數器測試塵埃3888 同時監測0.3、0.5、5.0μm或0.3、0.5、1.0、3.0、5.0、10.0μm粒子 4.3inch真彩色...