產品型號

TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿

1 、TEM-APT 樣品桿：三維原子探針（3DAP）和透射電鏡（TEM）是先 進的原子尺度表征手段。

主要特點

2、三維原子探針的結果不是“可視"的，需要通過數據重構再現。透射電鏡能 提供“直接可視"的實驗結果，但是結果是二維投影的，并且很難獲得三維的  單個原子尺度的成分信息。基于它們各自的優勢，我們開發了 3DAP-TEM 樣品  桿，可以將原子探針（APT）試樣直接加載到 TEM 樣品桿上。

產品結構

（1）在 TEM 中直接觀察 APT 試樣上是否有令人感興趣的區域，使樣品檢測工作效率增加；

（2）通過大角度傾轉試樣，獲得不同角度試樣的形貌結構特征，為 3DAP 數據重構提供幫

助；

產品作用

（3） TEM 觀察過后的試樣可以直接移到 APT 中繼續實驗。將 APT 結果與 TEM 圖像相結合，有

助于優化重構參數，并使 3DAP 結果更具有可信度。

（4）在原子水平上獲得了樣品的組成和結構。

產品性能

（1）接受錐形電化學拋光的樣品或聚焦離子束（FIB）制備的樣品柱。

（2）允許 360°的圖像采集和層析圖像的重建，不會因楔子缺失而造成信息損失。

（3）樣品可以很容易地從支架上取出，然后直接轉移到 APT 機上進行進一步表征。

（4）兼容所有幾何形狀的極片間隙。