Prisma E環境掃描電鏡 參考價：面議
Prisma E環境掃描電鏡具有環境功能的掃描電鏡，適用于工業研究和開發。始終在線的分析能力可提高您的工作效率，并獲取完整的樣品信息。
Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡 參考價：面議
Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡可進行高分辨率成像，并且可以擴展至材料的元素分析。
Volumescope 2 SEM掃描電鏡 參考價：面議
Volumescope 2 SEM掃描電鏡適用于對樣品進行大體積連續切片以及多能量反卷積三維重構的SEM掃描電鏡。
集成能譜場發射掃描電鏡 參考價：面議
Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™集成能譜場發射掃描電鏡實現了技術創新，簡化了分析流程。通過...
賽默飛礦物參數自動定量分析系統 參考價：面議
Maps Mineralogy賽默飛礦物參數自動定量分析系統軟件采用Maps軟件進行數據采集，而Maps軟件為顯微鏡自動化和關聯工作流程平臺，軟件界面直觀，數據...
Quattro ESEM環境掃描電鏡 參考價：面議
Quattro ESEM環境掃描電鏡環境掃描電鏡(ESEM)，用于研究包括含水樣品在內的各種樣品。
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡 參考價：面議
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡利用亞納米分辨率和高材料對比度進行納米材料表征和分析。
Axia ChemiSEM掃描電鏡 參考價：面議
Axia ChemiSEM掃描電鏡重新定義掃描電鏡工作流程，讓使用體驗更加愉悅。
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡 參考價：7000000
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡簡單易用，讓使用者能夠精準的控制實驗，已驗證的解決方案適用于各種樣品類型，保證數據采集的每一步都達到...
賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡 參考價：1000000
新一體化賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡，該儀器將微區成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息，幫助學術和工業用戶...
賽默飛 原FEI掃描電鏡 參考價：5000000
賽默飛 原FEI掃描電鏡Verios XHR SEM 是FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產品。在尖部半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 ...
賽默飛（原FEI）Quattro 進口掃描電鏡 參考價：4000000
賽默飛（原FEI）Quattro 進口掃描電鏡將成像和分析的全面性能與環境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態下進行。
賽默飛（原FEI）Apreo場發射掃描電子顯微鏡 參考價：3000000
賽默飛（原FEI）Apreo場發射掃描電子顯微鏡所有功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得，節省了新用戶和專家級用戶的時間。可自定義的用戶界面提供...
Prisma E sem掃描電子顯微鏡 參考價：2000000
新一代Prisma E Prisma E sem掃描電子顯微鏡可搭載Thermo Scientific ColorSEM技術，該技術將傳統的SE或者BSE成像技...
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