Prisma E環境掃描電鏡 參考價：面議
Prisma E環境掃描電鏡具有環境功能的掃描電鏡，適用于工業研究和開發。始終在線的分析能力可提高您的工作效率，并獲取完整的樣品信息。
Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡 參考價：面議
Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡可進行高分辨率成像，并且可以擴展至材料的元素分析。
材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM 參考價：面議
材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡。
能譜透射電鏡 Talos F200S TEM 參考價：面議
能譜透射電鏡 Talos F200S TEM：4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內以高靈敏度和高速進行實時數...
賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統 參考價：面議
賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統是第一款可為二維和三維器件提供動態無損實時 LIT 的集成系統。ELITE 系統的設計采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、...
賽默飛（原FEI）Helios 5 激光 PFIB 參考價：7000000
賽默飛（原FEI）Helios 5 激光 PFIB這是一臺先進的聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），可以利用納米級分辨率實現快速3D表征毫米尺度材料。
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM 參考價：面議
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM適用于所有材料科學和半導體應用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡。
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM 參考價：面議
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM使用無邊緣效應成像 (FFI) 可在每個樣品區采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產出。
Volumescope 2 SEM掃描電鏡 參考價：面議
Volumescope 2 SEM掃描電鏡適用于對樣品進行大體積連續切片以及多能量反卷積三維重構的SEM掃描電鏡。
Helios 5 Laser PFIB System 參考價：面議
Helios 5 Laser PFIB System 可以利用納米級分辨率實現快速3D表征毫米尺度材料。
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡 參考價：面議
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡具有多個離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價：面議
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于超高分辨率、高質量樣品制備和 3D 表征。
Glacios 2 冷凍透射電鏡 參考價：面議
Glacios 2 冷凍透射電鏡可無縫集成到單顆粒分析和冷凍電子斷層掃描工作流程中，并且可在整個工作流程中實現便捷、無污染的樣本轉移。
Nexsa G2 表面分析系統 參考價：面議
Nexsa G2 表面分析系統高效的電子透鏡、半球形分析器和檢測器使其具有的檢測能力和快速的數據采集能力。
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束 參考價：面議
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
Aquilos 2 Cryo FIB 冷凍聚焦離子束顯微鏡 參考價：面議
Aquilos 2 Cryo FIB 冷凍聚焦離子束顯微鏡專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價：面議
Helios 5 EXL DualBeam 聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于半導體工業的 FIB-SEM TEM 樣品制備，可實現全晶圓分析。
等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價：面議
Helios 5 Hydra DualBeam具有多個離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
集成能譜場發射掃描電鏡 參考價：面議
Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™集成能譜場發射掃描電鏡實現了技術創新，簡化了分析流程。通過...
賽默飛礦物參數自動定量分析系統 參考價：面議
Maps Mineralogy賽默飛礦物參數自動定量分析系統軟件采用Maps軟件進行數據采集，而Maps軟件為顯微鏡自動化和關聯工作流程平臺，軟件界面直觀，數據...
ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針 參考價：面議
ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針ESCALAB QXi的樣品臺上的所有運動軸均由 Avantage 數據系統控制，儀器上安裝了高分辨率數碼攝像...
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統 參考價：面議
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實現的檢測和快速數據采集。
Helios 5 PFIB DualBeam 參考價：面議
Helios 5 PFIB DualBeam由于新 PFIB 色譜柱可實現 500 V Xe+ 最終拋光和所有操作條件下的優異性能，因此可以實現高質量、無鎵TE...
Helios 5 DualBeam 參考價：面議
Helios 5 DualBeam使用的 Thermo Scientific Elstar 電子鏡筒為任何經驗水平的用戶提供 Thermo Scientific...
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