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元器件高低溫測試機chiller unit故障說明
元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試...
型號: TES-4525
所在地:無錫市
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面議更新時間:2024/1/7 7:03:48
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元器件冷卻系統測試chiller unit解答
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快速溫度循環試驗箱的使用安全須知
無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設備。廣泛應用于半導體企...
型號: AES-4535W
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小型快速溫度變化試驗箱的選購要點
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氣流溫度沖擊系統的相關知識普及
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芯片快速高低溫系統的日常維護知識
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高低溫氣流溫度沖擊系統的安裝事項
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冷熱氣流式高速高低溫環境試驗機試驗穩定性
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高低溫氣體沖擊測試儀使用細節
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