Park NX10高分辨率原子力顯微鏡為您帶來高納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。無論是從樣品設(shè)定還是到全掃描成像、測(cè)量與分析，Park NX10都可以在保證您專注于創(chuàng)新研究工作的同時(shí)提供高精度的數(shù)據(jù)。

Park NX10高分辨率原子力顯微鏡優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：

Park SmartScan 智能模式
在SmartScan Auto*的智能模式下，系統(tǒng)自動(dòng)執(zhí)行所有必要的成像操作，同時(shí)智能選擇圖像質(zhì)量和掃描速度。這是通過Park的技術(shù)才得以實(shí)現(xiàn)的。它不僅可以為您節(jié)省時(shí)間和金錢，還可以給你您帶來好的研究結(jié)果。

Park 消除串?dāng)_技術(shù)
Park NX10為您帶來高納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。它是一個(gè)真正非接觸式原子力顯微鏡，在延長(zhǎng)探針使用壽命的同時(shí)，還能良好地保護(hù)您的樣品不受損壞。可彎曲的獨(dú)立XY掃描儀和Z掃描儀可帶來準(zhǔn)確度和分辨率。

Park*的原子力顯微鏡模式
Park原子力顯微鏡具有綜合性的掃描模式，因此您可以準(zhǔn)確有效地收集各種數(shù)據(jù)類型。從使用世界的真非接觸模式用來保持探針的尖銳度和樣品的完整性，到*的磁力顯微鏡， Park在原子力顯微鏡領(lǐng)域?yàn)槟峁┚邉?chuàng)新、準(zhǔn)確的模式。

Park NX10 掃描離子電導(dǎo)顯微鏡模塊
Park NX10掃描離子電導(dǎo)顯微鏡模塊為廣泛的應(yīng)用，細(xì)胞生物學(xué)，分析化學(xué)，電生理學(xué)和神經(jīng)科學(xué)提供納米級(jí)成像。

技術(shù)信息
為通用研究提供準(zhǔn)確的AFM解決方案

低噪聲Z檢測(cè)器可進(jìn)行準(zhǔn)確的AFM測(cè)量
Park NX10原子力顯微鏡的低噪聲Z探測(cè)器
NX平臺(tái)的核心*技術(shù)

業(yè)界*的超低噪聲

默認(rèn)的形貌信號(hào)

Z軸探測(cè)器是全新NX系列原子力顯微鏡的核心技術(shù)之一。它是Park的新型應(yīng)變傳感器。憑借著0.2埃的超低噪聲一躍成為行業(yè)內(nèi)噪聲低的Z軸探測(cè)器。超低噪聲讓Z軸探測(cè)器可作為默認(rèn)的形貌信號(hào)，全新的NX系列原子力顯微鏡與前幾代的原子力顯微鏡的差異可輕易被觀察到。如果Z軸探測(cè)器的噪聲過高，用戶是無法觀察到藍(lán)寶石晶片的原子臺(tái)階的。Park NX系列原子力顯微鏡的Z軸探測(cè)器所發(fā)出的高度信號(hào)，其噪聲水平與Z軸電壓形貌相同。

真正的非接觸式™模式進(jìn)行準(zhǔn)確的AFM掃描

針尖磨損更低=高分率掃描更長(zhǎng)久

無損式探針-樣品接觸=樣品受損小化

可滿足各種條件下對(duì)各種樣品進(jìn)行非接觸式掃描

針尖磨損更快=模糊，低分辨率掃描

破壞性的探針-樣品接觸=樣品易受損

參數(shù)高依賴性

設(shè)計(jì)帶來好的用戶體驗(yàn)

簡(jiǎn)單的探針和樣品更換
*的設(shè)計(jì)能讓您輕易地用手從側(cè)面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對(duì)齊的懸臂，無需再進(jìn)行繁雜的激光校準(zhǔn)工作。

閃電般快速的自動(dòng)近針
自動(dòng)的探針樣品進(jìn)針功能能讓用戶無需進(jìn)行干預(yù)操作。通過監(jiān)測(cè)懸臂接近表面的反應(yīng)，Park NX10能夠在懸臂裝載后十秒內(nèi)開始并自動(dòng)快速完成探針樣品進(jìn)針操作。高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號(hào)處理使得無需用戶干預(yù)就能快速接觸樣品表面。

快速的SLD光校準(zhǔn)

憑借我們*的預(yù)校準(zhǔn)懸臂架，懸臂在裝載時(shí)SLD光便已聚焦完畢。此外，作為行內(nèi)一家可以提供自上而下的同軸視角可以讓您輕松找到光點(diǎn)。由于SLD光垂直照在懸臂上，您可通過旋轉(zhuǎn)兩個(gè)定位按鈕直觀地在X軸Y軸移動(dòng)光點(diǎn)。這樣您可以在激光準(zhǔn)直頁面中輕易找到SLD光并將其定位在PSPD上。此時(shí)您只需要稍微調(diào)整到z大化信號(hào)，便可開始獲取數(shù)據(jù)。

Park NX10特點(diǎn)：
掃描范圍為50 μm x 50 μm 的2D掃描器
XY軸掃描器有對(duì)稱的二維高強(qiáng)度壓電疊堆。它可為進(jìn)行納米級(jí)樣品掃描，提供基本的面外高效正交運(yùn)動(dòng)和高響應(yīng)能力。Park NX10的這種緊密剛硬的構(gòu)造具備低噪聲高速的伺服響應(yīng)能力。

低噪聲XYZ位置傳感器
低噪聲Z軸探測(cè)器代替Z電壓作為形貌信號(hào)。低噪聲XY閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。

自動(dòng)步進(jìn)掃描 借助驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，步進(jìn)掃描可編程多區(qū)域成像，以下是它的工作流程：
掃描成像
抬起懸臂
移動(dòng)驅(qū)動(dòng)平臺(tái)到設(shè)定位置
進(jìn)針
重復(fù)掃描

滑動(dòng)嵌入SLD鏡頭的自主固定方式
您只需滑動(dòng)嵌入燕尾導(dǎo)軌便可輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。該設(shè)計(jì)可將鏡頭自動(dòng)鎖定至預(yù)對(duì)準(zhǔn)的位置，同時(shí)與復(fù)位精度為幾微米的電路系統(tǒng)相連接。借助于相關(guān)性低的SLD，顯微鏡可成像并可準(zhǔn)確測(cè)定力-距離曲線。

高級(jí)掃描探針顯微鏡模式和選項(xiàng)的擴(kuò)展槽
只需將可選模塊插入擴(kuò)展槽便可激活高級(jí)掃描探針顯微鏡模式。得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊設(shè)計(jì)，其生產(chǎn)線設(shè)備兼容性得到大大提高

高速24位數(shù)字控制器
所有NX系列的原子力顯微鏡都是由相同的NX電子控制器進(jìn)行控制和處理。 該控制器是個(gè)全數(shù)字，24位高速控制器，可確保True Non-Contact™模式下的成像精度和速度。憑借著低噪聲設(shè)計(jì)和高速處理單元，該控制器也是納米成像和電壓電流測(cè)量的選擇。嵌入式數(shù)字信號(hào)處理為原子力顯微鏡帶來更為豐富的功能，更好的解決方案，是高級(jí)研究員的選擇。

XY和Z軸檢測(cè)器的24位信號(hào)分辨率
XY軸（50 μm）的分辨率為0.003nm
Z軸（15 μm ）的分辨率為0.001 μm

嵌入式數(shù)字信號(hào)處理功能
三通道數(shù)碼鎖相放大器
彈簧系數(shù)校準(zhǔn)（熱方法）
數(shù)據(jù)Q控制

集成式信號(hào)端口
可編程信號(hào)輸入/輸出端口
7個(gè)輸入端口和3個(gè)輸出端口