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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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產品簡介
詳細介紹
NX20 高精度全自動大面積原子力顯微鏡--用于缺陷分析和大型樣品研究的納米計量工具
作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數據不能允許任何錯誤的存在。Park NX20，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數據準確性，在半導體和超平樣品行業中大受贊揚。
NX20 高精度全自動大面積原子力顯微鏡概述：
強大全面的分析功能
Park NX20具備功能，可快速幫助客戶找到產品失效的原因，并幫助客戶制定出更多具有創意的解決方案。精密度為您帶來高分辨率數據，讓您能夠更加專注于工作。與此同時，真正非接觸掃描模式讓探針尖duan更鋒利、更耐用，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。。
即便是d一次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作
ParkNX20擁有業界為便捷的設計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力，也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一系列特點，您可以更加專注于解決更為重大的問題，并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。
技術特點
為FA和研究實驗室提供形貌測量解決方案
樣品側壁三維結構測量
NX20的創新架構讓您可以檢測樣品的側壁和表面，并測量它們的角度。眾多的功能和用途正是您的創新性研究和敏銳洞察力所*的。
對樣品和基片進行表面光潔度測量
表面光潔度測量是Park NX20的關鍵應用之一，能夠帶來失效分析和質量保證。
高分辨率電子掃描模式
QuickStep SCM
快的掃描式電容顯微鏡
PinPoint AFM
無摩擦導電原子力顯微鏡
多種*的技術幫助顧客減少測試時間
CrN樣品所做的針尖磨損實驗
AFM測量
低噪聲Z探測器測量準確的樣品表面形貌
沒有壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌
超低噪聲Z探測器，噪音水平低于0.02 nm,從而達到樣品形貌成像，沒有邊沿過沖無需校準。Park NX20在為您提供好的數據的同時也為您節省了寶貴的時間。
Park NX系列原子力顯微鏡
傳統的原子力顯微鏡
Park NX20特點
低噪聲XYZ位置傳感器
低噪聲Z軸探測器代替Z電壓作為形貌信號。低噪聲XY閉環掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。
自動多點掃描
借助驅動樣品臺，步進掃描可編程步進掃描,多區域成像，以下是它的工作流程：該自動化功能可大大減少掃描過程中人工移動樣品所需時間，從而縮短測試時間，提高生產率。
滑動嵌入SLD鏡頭的自主固定方式
您只需滑動嵌入燕尾導軌便可輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。該設計可將鏡頭自動鎖定至預對準的位置，同時與復位精度為幾微米的電路系統相連接。借助于相關性低的SLD，顯微鏡可成像并可準確測定力-距離曲線。
高級掃描探針顯微鏡模式和選項的擴展槽
只需將可選模塊插入擴展槽便可激活高級掃描探針顯微鏡模式。得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊設計，其生產線設備兼容性得到大大提高
高速24位數字控制器
所有NX系列的原子力顯微鏡都是由相同的NX電子控制器進行控制和處理。 該控制器是個全數字，24位高速控制器，可確保True Non-Contact™模式下的成像精度和速度。憑借著低噪聲設計和高速處理單元，該控制器也是納米成像和電壓電流測量的選擇。嵌入式數字信號處理為原子力顯微鏡帶來更為豐富的功能，更好的解決方案，是高級研究員的選擇。
XY和Z軸檢測器的24位信號分辨率
嵌入式數字信號處理功能
集成式信號端口
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