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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,生物產業,建材/家具,制藥/生物制藥,綜合 |
產品分類品牌分類
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產品簡介
詳細介紹
XD laser激光干涉儀 XD laser激光干涉儀
一維測量系統XD –1D標準型&精密型
三維測量系統XD –3D
五維測量系統XD –5D標準型&精密型
六維測量系統XD –6D 標準型&精密型
測量機床全部誤差所用的時間越短，越能夠反映所測機床的真實情況。當用傳統干涉儀測量時，因在測量各項指標時更換光學鏡調整光路上要浪費大量的時間，難以保證機床檢測數據的穩定性和重復再現性。XD系列激光干涉儀約在2000年進入中國市場，結合激光干涉技術和光電自準直技術:不僅可用于精度的終評價, 也可用于機床的安裝調整。XD Laser 激光干涉儀是API公司的產品。-次安裝即可以測得6個參數.包括1個位置度誤差. 2個直線度誤差和3個角度誤差。通常時間需數天進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成。實際應用結果表明:可節省時間高達80%。
圖示：XD激光干涉儀
*結構設計
API公司采用了穩定鋼球與絕熱層的雙重定位設計，將干涉鏡用高絕熱層與激光器主機隔開，從而避免了干涉鏡受熱變形，用穩定鋼珠將干涉鏡前端的干涉區與下端底盤定位相連，從而使激光管及電路板發熱而引起的熱膨脹方向沿穩定鋼珠中線向后，使得干涉鏡不受影響，保證了測量準確性。
主要特性：
??一次安裝能測量6項精度指標包括線性定位誤差、XX及YY兩個方向直線度、偏擺角、俯仰角、滾動角
??把反射鏡換成五棱鏡既可測量兩軸間垂直度
??兩點調光線.無需三腳架. 測量調整簡單快速
??傳統激光干涉儀測量20項精度指標(三軸)，約需3天的時間；API干涉儀只約需半天!
??測量直線度/小角度/垂直度/轉臺時, 不怕斷光, 可當自準直儀用, 用于機床裝配調試
機床主要誤差：
激光干涉儀 ↓ 幾何誤差(21項：線性定位誤差 | 主軸測量系統： ↓ 溫升熱變性誤差： 主軸溫升 導軌溫升變性 |
美國API軟件功能：
從初的系統校準到測量結果的審查.再到機床的空間精度補償，API軟件 都會無微不至地協助您完成測量工作:易于使用一- 界面設計明朗，讓操作者一目了然。高效多功能一無論您測量位置度.直線度.角度、平面度甚至是空間誤差補償以及數控程序，XD Laser和API軟件都將伴您左右，幫助提高您的生產效率。
SPELECNIR是市場上*將近紅外光譜與電化學測量集成在一起的儀器，所有組件都完美匹配，其中電化學和光學測量可以實現準確同步。儀器中集成了光源、光譜儀和一臺雙恒電位/恒電流儀。
該儀器還可以作為近紅外光譜儀或雙恒電位/ 恒電流儀獨立使用。SPELECNIR可以與標準比色皿支架或光譜電化學測試池池一起使用，也可以配合DropSens測試池和絲網印刷電極一起使用。
主要特點
• DropView同時控制光譜與電化學測量
• 光譜信號與電化學測量同步采集
• 實時采集光譜，無延遲
• 暗譜與參考譜校正
• 計數、吸收率、透射率和反射率測量和計算
• 自動和手動快門控制
• 自由選擇積分時間
• 強大的數據處理和分析
• 可分別提供光譜和電化學曲線相關信息
強大的的數據采集與結果處理
• 實時控制面板，可在電化學測量過程中隨時連續收
集生成的光譜。
• 特定波長下光譜與電化學曲線圖：電位吸收圖，計時
吸收圖和微分圖。
• 獨立收集每個光譜和電化學曲線的信息。
• 的EC范圍內捕獲的光譜, 獲取與特定EC點相關
的光譜。
• 繪制疊加，峰積分，平滑（所有原始數據光譜）。
• 三維繪圖, 錄制實驗影片。
• 所有數據均可導出Excel。
