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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,建材/家具,包裝/造紙/印刷,紡織/印染,制藥/生物制藥 |
產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
XL 80激光干涉儀
XL 80激光干涉儀
激光系統(tǒng)射出的光波具有三種主要特性：
• 已知準(zhǔn)確波長，可實現(xiàn)準(zhǔn)確測量
• 波長非常短，可實現(xiàn)準(zhǔn)確或高分辨率測量
• 所有光波相位相同，可根據(jù)已知的基準(zhǔn)進(jìn)行測量
應(yīng)用：
1. 機(jī)器驗證
XL-80激光系統(tǒng)常見的用途是用來驗證運動系統(tǒng)。通過測量機(jī)器性能，用戶不僅對加工過程充滿信心，還可提前發(fā)現(xiàn)加工件中存在的問題。 與激光跟蹤系統(tǒng)不同的是，XL-80可直接在機(jī)器上單獨測量幾何誤差。這樣一來，用戶對測量結(jié)果更有信心，并且能夠發(fā)現(xiàn)誤差。
機(jī)器精度可通過以下途徑提高：
• 對機(jī)器裝配進(jìn)行針對性改造
• 根據(jù)數(shù)據(jù)應(yīng)用誤差補(bǔ)償重復(fù)運行測試可驗證所作的改進(jìn)并展示機(jī)器改進(jìn)后的功能。
2. 誤差補(bǔ)償
誤差補(bǔ)償可通過減少機(jī)器所示位置和實際位置之間的誤差來提升機(jī)器的整體性能。大多數(shù)機(jī)床都會包含一些用于調(diào)整反向間隙和線性誤差的選項。然而，功能更強(qiáng)大的機(jī)床控制器可提供在刀尖位置應(yīng)用空間補(bǔ)償?shù)倪x項。空間補(bǔ)償將考慮所有幾何誤差，包括線性誤差。XL-80可用于將補(bǔ)償值填入到補(bǔ)償表中。 雷尼紹空間補(bǔ)償軟件將激光測量讀數(shù)轉(zhuǎn)換成補(bǔ)償文件，然后可直接將其輸入到特定的機(jī)床控制器中。
3. 專業(yè)激光觸發(fā)
當(dāng)對線性測量采用“自動”采集功能時，系統(tǒng)會在機(jī)器移至一個被認(rèn)為穩(wěn)定的位置時測量位置誤差。然而，一些應(yīng)用需要激光系統(tǒng)在自定義的時間或在同步位置采集數(shù)據(jù)。
觸發(fā)方式：
• 使用計算機(jī)鼠標(biāo)或按鍵手動觸發(fā)
• 編碼器同步觸發(fā)
• 基于時間的觸發(fā)
• 利用繼電器通過機(jī)器的控制器進(jìn)行觸發(fā)
* 要求使用TB10觸發(fā)器
4. 動態(tài)分析
了解系統(tǒng)的動態(tài)特性，例如加速度、速度、振動、停止時間、共振和減振，對于許多應(yīng)用都至關(guān)重要。這些特性將影響系統(tǒng)的操作能力，例如位置精度、重復(fù)性、表面光潔度及磨損。標(biāo)準(zhǔn)的XL-80激光干涉儀可以高達(dá)50 kHz的頻率采集動態(tài)數(shù)據(jù)。QuickViewXL軟件包簡單易用，有直觀的界面，能夠記錄、查看和保存動態(tài)數(shù)據(jù)。
5. 雙軸
在一些設(shè)備中，機(jī)器的一個軸由兩個驅(qū)動裝置和兩個反饋系統(tǒng)控制（如龍門銑床、車床和大型龍門型坐標(biāo)測量機(jī)）。在這種情況下，兩個激光裝置與雙軸軟件結(jié)合使用，能夠自動同步采集平行軸數(shù)據(jù)。雙軸測量軟件為LaserXL軟件的標(biāo)準(zhǔn)配置。
SPELECNIR是市場上*將近紅外光譜與電化學(xué)測量集成在一起的儀器，所有組件都完美匹配，其中電化學(xué)和光學(xué)測量可以實現(xiàn)準(zhǔn)確同步。儀器中集成了光源、光譜儀和一臺雙恒電位/恒電流儀。
該儀器還可以作為近紅外光譜儀或雙恒電位/ 恒電流儀獨立使用。SPELECNIR可以與標(biāo)準(zhǔn)比色皿支架或光譜電化學(xué)測試池池一起使用，也可以配合DropSens測試池和絲網(wǎng)印刷電極一起使用。
主要特點
• DropView同時控制光譜與電化學(xué)測量
• 光譜信號與電化學(xué)測量同步采集
• 實時采集光譜，無延遲
• 暗譜與參考譜校正
• 計數(shù)、吸收率、透射率和反射率測量和計算
• 自動和手動快門控制
• 自由選擇積分時間
• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和分析
• 可分別提供光譜和電化學(xué)曲線相關(guān)信息
強(qiáng)大的的數(shù)據(jù)采集與結(jié)果處理
• 實時控制面板，可在電化學(xué)測量過程中隨時連續(xù)收
集生成的光譜。
• 特定波長下光譜與電化學(xué)曲線圖：電位吸收圖，計時
吸收圖和微分圖。
• 獨立收集每個光譜和電化學(xué)曲線的信息。
• 的EC范圍內(nèi)捕獲的光譜, 獲取與特定EC點相關(guān)
的光譜。
• 繪制疊加，峰積分，平滑（所有原始數(shù)據(jù)光譜）。
• 三維繪圖, 錄制實驗影片。
• 所有數(shù)據(jù)均可導(dǎo)出Excel。
