系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導電粒子，確認導電粒子個數是否符合要求。
首先，需要觀察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為好，超過后會由于景深的問題導致觀察效果模糊，無法觀察到好的效果。
準備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開始觀察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺上，調整好焦距，通過載物臺移動后找到觀察位置。現在插入起偏及檢偏器，通過目鏡觀察屏上位置，再調節檢偏器，直到光線黑時停止調節檢偏器。后插入DIC,調節DIC進行偏光直到看到導電粒子清晰時就可以停止了。
產品名稱：導電粒子顯微鏡
產品型號：PZ-JTM-5040H
產品簡介：主要用于LCD、PDP、PCB等相關的光電產業，為其研發、制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導電粒子大小、數量等功能
產品特點：
導電粒子顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的高精度、率測量儀器。它具有電視成像與目視光學兩套瞄準系統，是集光、機、電、算、影像于一體的測量型金相顯微鏡。該儀器廣泛用于電子組件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面，不僅可用作坐標測量，還可以目鏡標準分劃板作顯微放大比較測量，測量螺紋的節距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓，ACF導電粒子形狀和瑕疵觀察，除應用于長度、角度測量外，還可作為觀察顯微鏡。是機械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業，院校、研究所和計量檢定部門的計量室、實驗室已經生產車間*的計量檢測設備之一。
1. 符合人機工程學設計準則方便操作測量
2. 工作臺一鍵式氣動單手快速移動操作
3. 可實現Z軸自動對焦
4. 具有偏光和DIC檢測功能
5. 采用被動式減震裝置，提高整機精度穩定性
6. 開發QMS3D-M軟件，高清晰進口1/2"彩色攝像機
7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置，可適應復雜工件的測量
8. 可實現高度輔助測量
9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm
10. 同軸光/底光測量
11. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度
規格參數：
規格型號 | JTM-5040H | |||||
工作臺 | 玻璃臺尺寸（mm） | 570*470 | ||||
運動行程（mm） | 500* 400 | |||||
Z軸電動升降行程(mm) | 200 | |||||
光柵尺分辨力(μm) | 0.1μm | |||||
X、Y坐標示值誤差(μm) | 2.5+ L/75 (L為測量長度，單位mm) | |||||
影像系統 | 彩色1/2”CCD攝色機：；結合測量軟件QMS3D-M | |||||
顯微鏡系統 | 三目頭 目鏡：10倍 濾光片：黃、綠、藍、白 量測模式：反射，透射，偏光 5孔物鏡轉換鏡 | |||||
照明系統 | 透射照明光源：白光LED，亮度可調 同軸照明光源：12V 100W鹵素燈，亮度可調 | |||||
物鏡 | ||||||
倍率 | 5X | 10X | 20X | 50X | ||
工作距離 (mm) | 18.0 | 15.0 | 4.5 | 11.0 | ||
總放大倍率 | 目視 | 50X | 100X | 200X | 500X | |
19寸視頻 | 301.625X | 603.25X | 1206.5X | 3016.25X | ||
高度量測模塊 （選配件） | 白光干涉高度測量模塊(M10-CA),高度量測分辨率0.5 μm (選配):倍率10X，工作距離5mm，光學分辨力2um | |||||
其他參數 | ||||||
外形尺寸 (mm) | 1270*1150*1860 | |||||
儀器重量 (kg) | 850 | |||||
電源功耗 | ~220V 50/60Hz < 60W(不包含計算機) | |||||
北京品智創思精密儀器有限公司
8
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務