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導電粒子顯微鏡產品介紹
應用領域：LCD液晶、導電粒子、彩色濾光片、手機屏幕、FPD模組、半導體晶圓片、FPC、PCB IC封裝、光盤CD、 圖像傳感器CCD、 CMOS、PDA等。
光源：采用3W 高亮度LED落射和透射照明裝置。
物鏡：高清晰平場熒光物鏡。
偏光：主機內含有可調節偏光裝置。
微分干涉DIC：主機內含有可調節微分干涉DIC裝置，使觀察更清晰，具有更強的立體感和調焦功能。
工作原理
導電粒子顯微鏡是利用電子束在樣品表面掃描激發出來代表樣品表面特征的信號成像的。主要用來作微形貌觀察、顯微成分分析。分辨率可達到1nm，放大倍數可達5×105倍。
導電粒子顯微鏡特點
(1)掃描電鏡所用樣品的制備方法簡便(固定、干燥和噴金)，不需經過超薄切片；
(2)能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(3)掃描電鏡所觀察到圖像景深長，圖像富有立體感；掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
(4)圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。圖像的放大倍率在很大范圍內連續可變(101-105×)，分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
(5)樣品的輻射損傷及污染程度小等。
導電粒子顯微鏡局限性
(1)分辨率還不夠高(1-10nm)；
(2)只能顯示樣品的表面形貌，無法顯示內部詳細結構。

產品名稱：導電粒子金相顯微鏡
產品型號：PZ- M-100DIC
產品簡介：M-100DIC型微分干涉數碼顯微鏡是一款性價比非常高的檢測用光學儀器。導電粒子金相顯微鏡采用優良的無限遠光學成像系統，內置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭，體現了目視觀察的真實還原，以及數碼攝影與顯微成像的技術融合，觀察到的干涉圖像具有更強的立體感，適合于非透明材質的表面形態觀察，如液晶屏導電粒子的顯微形態。是精密制造領域內品質檢測、結構研究的理想儀器。 
性能特點 
★ 產品采用無限遠光學成像系統，可選擇5X、10X、20X等長工作距離平場消色差無應力物鏡，匹配相應的微分 干涉（DIC插板）進行不同倍率的顯微觀察；
★ 照明系統采用高亮度、長工作時間的LED器件，具有結構緊湊、使用安全等特點，特別適合在線檢測的環境要求；
★采用立柱式高度調整方式，觀察樣品的厚度范圍更大.