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*系列 400 半面罩呼吸器采用應(yīng)用于嬰兒奶嘴的硅膠材料,抗過(guò)敏,長(zhǎng)時(shí)間佩戴亦無(wú)不適感; 頭帶懸垂調(diào)節(jié)設(shè)計(jì),可將面罩掛于胸前 ,方便取用; 面罩一體化設(shè)計(jì),整個(gè)...
總線制可燃?xì)怏w泄漏報(bào)警系統(tǒng)GT-SKD20 GY-SKD20Modbus RTU RS-485通訊方式用于城市工商業(yè)燃?xì)?獨(dú)立式可燃?xì)怏w探測(cè)器
總線制可燃?xì)怏w泄漏報(bào)警系統(tǒng)SCV-20SModbus RTU RS-485通訊方式用于城市工商業(yè)燃?xì)?獨(dú)立式可燃?xì)怏w探測(cè)器
44-46-48N型QUESTemp° 區(qū)域無(wú)水濕球熱指數(shù)監(jiān)測(cè)儀熱指數(shù)管理通常被認(rèn)為是耗時(shí)和復(fù)雜的。使用TSI直觀的QuesTemp系列熱指數(shù)監(jiān)測(cè)儀簡(jiǎn)...
AeroTrak+遠(yuǎn)程在線浮游菌采樣器 7010商品編號(hào): 7010-090-1V在具有外部真空系統(tǒng)的制藥制造甲級(jí)和乙級(jí)環(huán)境中提供自信可靠的無(wú)菌微生物監(jiān)測(cè)。
石英晶體微量天平 QCM MOUDI 撞擊式分級(jí)采樣器 140商品編號(hào): 140QCM MOUDI™撞擊式采樣器是一款基于QCM(石英晶體微量天平)...
直讀式光學(xué)法煙塵檢測(cè)儀 產(chǎn)品描述 STM225 由測(cè)量主機(jī)和取樣系統(tǒng)組成,儀器內(nèi)置的雙光束測(cè)量系統(tǒng) 分別集成在兩個(gè)單獨(dú)的測(cè)量腔室內(nèi),分別用于測(cè)算煙氣中精細(xì)粉塵 ...
PPM WR 揮發(fā)性有機(jī)化合物氣體傳感器離科PPM寬范圍傳感器適用于在很寬的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)檢測(cè)VOC而不影響其性能。它也是一款具有燈滅診斷功能的PID傳感器。
PPM 揮發(fā)性有機(jī)化合物氣體傳感器采用了傳感技術(shù)的OEM氣體傳感器離科PPM氣體傳感器適用于在很寬的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)檢測(cè)VOC而不影響其性能。它也是一款具有燈滅診斷功...
漆膜附著力測(cè)試Film adhesion testing of thin films and stacks on substrates for material...
巖心掃描XRF分析儀適合海洋、湖底沉積物樣芯,鉆探巖石巖心樣品及其他樹(shù)木,柱狀樣品的快速XRF元素分析及X光射線成像掃描和高清晰光學(xué)掃描
涂層測(cè)厚儀SURFIX®簡(jiǎn)易系列Surfix® 簡(jiǎn)易系列的測(cè)量探頭均由硬質(zhì)合金制成,這意味著它具有使用壽命。前端塑料帽 設(shè)計(jì)有一個(gè)V型槽,因...
三維表面測(cè)量系統(tǒng)布魯克NPFLEX三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案,超過(guò)300度的測(cè)量空間,克服了以往由于零件某些角度或取向問(wèn)題...
掃描儀Itrax XRF FleXRayItrax XRF FleXRay是一款靈活的非接觸式,無(wú)損巖芯掃描儀,可以用于掃描鉆孔巖芯、全巖和分散巖芯、板狀、線性...
紅外干涉測(cè)量設(shè)備適用于可讓紅外線通過(guò)的材料硅、藍(lán)寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平...
便攜式涂層測(cè)厚儀PaintCheck能測(cè)量涂層的厚度,也能提供有關(guān)涂層結(jié)構(gòu)的有價(jià)值信息,例如,頂部涂層或子填料。如果所測(cè)量的厚度超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)涂層,該儀器會(huì)識(shí)別出維修...
全自動(dòng)紫外線芯片應(yīng)力測(cè)量?jī)x全自動(dòng)紫外線芯片應(yīng)力測(cè)量?jī)x一臺(tái)全自動(dòng)紫外線——可見(jiàn)光RAMan儀器,主要用與測(cè)量芯片應(yīng)力。
反射膜厚儀采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速...
反射膜厚儀MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅...
涂層測(cè)厚儀SURFIX®X系列這款新型PHYNIX儀器其性能在于精美的彩色顯示屏,更好的內(nèi)容顯示,并包含多種語(yǔ)言。目前的版本含有英語(yǔ),德語(yǔ),法語(yǔ),意大...
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