紅外應力雙折射測量系統主要特點：
硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。
紅外波長的雙折射/相位差面分布測量
硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布
安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View
可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據
可搭配流水線對應的『外部控制選配』，也可應用于量產現場
紅外應力雙折射測量系統主要功能：
NIR波長僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息
測量數據的保存/讀取簡單快捷
全部的測量結果都可以做保存/讀取，易于跟過去的測量結果做比較等
豐富的圖形創建功能
可以自由制作線圖形和直方圖
測量結果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出
主要參數：
實際測量對比：
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