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注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測儀
注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:17:15 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量內(nèi)應(yīng)力測量儀
內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL
內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:58:02 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量內(nèi)應(yīng)力測量儀
雙折射測量儀PA-300-MT
雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:56:19 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
雙折射測量儀PA-Micro
雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:54:24 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage
online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版，可升級STS 。操作簡單，可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。記錄雙折射的數(shù)值數(shù)...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:52:37 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM
在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產(chǎn)線上，實(shí)現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量。 LIVE實(shí)時輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:50:13 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
online雙折射測量儀KAMAKIRI W
online雙折射測量儀KAMAKIRI W適用于薄膜等生產(chǎn)線上，實(shí)現(xiàn)各個環(huán)節(jié)的雙折射測量LIVE實(shí)時輸出雙折射的信息OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時對異...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:48:00 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
online雙折射測量儀
歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應(yīng)力測量設(shè)備，其高速相機(jī)CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結(jié)合，研制在線...
型號： WPA-KAMAK... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:46:04 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-...
型號： WPA-NIR 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:44:07 對比

雙折射測量儀應(yīng)力雙折射儀應(yīng)力分布測量儀紅外偏光應(yīng)力儀光學(xué)薄膜雙折射測量儀
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機(jī)鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機(jī)所使用的鏡片...
型號： WPA-200-M... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:42:14 對比

雙折射測量儀應(yīng)力雙折射儀應(yīng)力分布測量儀應(yīng)力雙折射測量儀鏡頭應(yīng)力雙折射系統(tǒng)
雙折射測量儀PA-300-L
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:39:53 對比

雙折射測量儀玻璃應(yīng)力分布儀應(yīng)力分布測量儀雙折射儀相位差測量儀
ME-210-T膜厚測量儀
ME-210-T膜厚測量儀為一種光學(xué)系膜厚測量裝置，這個裝置的特點(diǎn)是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T活用了本...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:32:07 對比

橢偏儀透明基板厚度測量儀極薄膜高精度測量
偏振相機(jī)
PI/WPI偏振相機(jī)能夠獲得實(shí)時的偏振信息，作為一個正常的圖像，并在高分辨率。它們被應(yīng)用在許多領(lǐng)域，包括利用偏振特征識別暗物體，激光光束的實(shí)時偏振監(jiān)測等。除了P...
型號： PI-300/WP... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:29:50 對比

偏振成像偏振相機(jī)
玻璃應(yīng)力雙折檢測系統(tǒng)
玻璃應(yīng)力雙折檢測系統(tǒng)PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速而又的測量3D玻璃...
型號： PA300 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:25:28 對比

應(yīng)力儀偏光測量儀內(nèi)應(yīng)力測量儀偏光應(yīng)力儀雙折射測量
顯微鏡型相位差測量儀
顯微鏡型相位差測量儀WPA-micro操作簡單，測量速度可以快到3秒，?采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。?測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可...
型號： WPA-micro 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:23:22 對比

雙折射測量儀應(yīng)力分布測量顯微型雙折射測量儀小相位差測量儀
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速而又精q的測量能力使其成...
型號： WPA-200-L 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:21:09 對比

雙折射測量儀應(yīng)力雙折射儀應(yīng)力分布測量儀偏光應(yīng)力儀光學(xué)薄膜雙折射測量儀
玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)PA系列分布測量儀:理想的光學(xué)玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內(nèi)外溫度不同，或者退火爐內(nèi)各處溫度不等都會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力。光學(xué)玻璃內(nèi)應(yīng)力...
型號： PA系列所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:17:18 對比

玻璃應(yīng)力分布手機(jī)面板雙折射測量儀玻璃相位差測量偏光應(yīng)力儀內(nèi)應(yīng)力測量儀
雙折射儀-應(yīng)用3D玻璃
雙折射儀-應(yīng)用3D玻璃——PA200和PA200-L-L是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速而又的測量3...
型號： PA200;PA2... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:08:22 對比

應(yīng)力儀偏光測量儀位相差雙折射儀雙折射測量
膜厚測量儀
膜厚測量儀為一種光學(xué)系膜厚測量裝置，這個裝置的特點(diǎn)是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T活用了本公司*的偏光Se...
型號： ME-210-T 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:00:42 對比

橢偏儀透明基板厚度測量儀極薄膜高精度測量
晶圓應(yīng)力雙折射測量儀
晶圓應(yīng)力雙折射測量儀PA-110-T，Z大可測8英寸Wafer、藍(lán)寶石、SiC晶圓等結(jié)晶缺陷的評估，藍(lán)寶石或SiC等透明晶圓的結(jié)晶缺陷，會直接影響到產(chǎn)品的性能，...
型號： PA-110-t 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 12:40:49 對比

內(nèi)應(yīng)力測量儀晶圓雙折射測量儀雙折射測量儀晶圓缺陷評估儀

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