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產品簡介
二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學和工業應用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統光學顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產生各種信號，被檢測到并轉換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態進行詳細檢查。SEM的主要優點之一是能夠實現高分辨率成像。
詳細介紹
二手sem+edx電鏡蔡司場發射掃描電子顯微鏡具有出色的探測效率，能夠輕松實現亞納米分辨成像，適用于多種材料的高分辨成像與分析。其優異的低電壓成像能力與表面細節靈敏度，讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。為生命科學研究實驗室、工業實驗室、成像測試平臺、高校或研究機構提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微技術與方案。
[ 產品特點 ]
出色的檢測效率
優異的低電壓分辨率和表面靈敏度
靈活的探測手段獲取高分辨的圖像
無漏磁鏡筒，輕松應對磁性材料表征
豐富的擴展性
[ 應用領域 ]
材料科學，如納米材料表征
工業應用，如失效分析，性能分析
生命科學，如大體積細胞高通量成像
電池領域，如老化分析、電池材
電子半導體領域，如半導體器件失效研究與分析
刑偵、法醫學
考古學、文物保護與修復
二手sem+edx電鏡【技術參數】
分辨率： 0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV
放大倍數：12-2,000,000×
加速電壓：調整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實現）
探針電流： 3pA-20nA（100nA可選）
低真空范圍： 10-500Pa （GeminiSEM300 VP可用）
樣品室： 330 mm（φ），270 mm（h）
樣品臺：5軸優中心全自動
X=130mm
Y=130mm
Z=50 mm
T=-3o-70o
R=360o 連續
