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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
JSM-IT200掃描電子顯微鏡：是機(jī)型JSM-IT200 鎢燈絲掃描電鏡是日本電子株式會(huì)社在2018 年將在同步推出的全新數(shù)字化掃描電鏡，其性能優(yōu)異、自動(dòng)化程度高、操控界面人性化及穩(wěn)定性的掃描電鏡，可廣泛的應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。
詳細(xì)介紹
JSM-IT200掃描電子顯微鏡：全自動(dòng)電子光學(xué)系統(tǒng)。高分辨率丶高效率
ZEROMAG輕鬆放大到X100,000倍
全自動(dòng)電子槍無(wú)縫自主柵偏壓和消像散的自動(dòng)記憶功能均自動(dòng)實(shí)現(xiàn)。二次電子探測(cè)器：3.0nm（30kV），15nm（1kV），背散射電子探測(cè)器4.0nm（30kv） 既保證高電壓下的高分辨率，也可提供低電壓下高質(zhì)量的圖像。
全新的zeromag 導(dǎo)航模式，可以在掃描電鏡上進(jìn)行直接的光學(xué)放大，并直接過(guò)度到電子光學(xué)照片而不需要圖像切換。全自動(dòng)的聚焦襯度系統(tǒng)。
LIVE ANALYSIS功能提高了元素分析效率
實(shí)時(shí)分析～SEM和EDS一體化集成～
利用Live Analysis 功能可以不必再分別考慮高倍率觀察和EDS分析。在觀察屏幕上可以隨時(shí)顯示分析區(qū)域內(nèi)的特征X射線(xiàn)譜圖以及自動(dòng)定性的主要構(gòu)成元素。
大面積一體化EDS，可以在同一臺(tái)電腦上實(shí)現(xiàn)SEM 觀察與EDS 分析，并且可以在SEM 觀察的同時(shí)同步進(jìn)行EDS 分析
JSM-IT200操做簡(jiǎn)單丶性能
SMILE VIEW™ Lab是能集中管理與樣品臺(tái)位置聯(lián)動(dòng)的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報(bào)告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析，生成報(bào)告等都能簡(jiǎn)便地進(jìn)行。
JSM-IT200掃描電子顯微鏡：全自動(dòng)化操作介面，輕松上手。讓掃描電鏡成為簡(jiǎn)單易用的常備設(shè)備，協(xié)助您快速完成各類(lèi)影像及成分分析。