化工儀器網(wǎng)
產品簡介
二手Agilent7500質譜儀icp-ms電感耦合等離子體質譜是一種新型的無機元素和同位素分析技術，可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素。ICP-MS技術在分析能力上，超過傳統(tǒng)的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術（ICPAES）、石墨爐原子吸收（GFAAS）和汞冷原子吸收技術（CVAAS）的總和，被稱為當代分析技術激動人心的發(fā)展。
詳細介紹
Agilent7500質譜儀icp-ms電感耦合等離子體質譜技術的應用領域包括：
環(huán)境樣品分析，包括自來水、地表水、地下水、海水以及各種土壤、廢棄物等的分析
半導體材料分析
玻璃、陶瓷和礦冶等樣品分析
地質學研究
生物食品及醫(yī)藥臨床研究
核材料分析
石油化工樣品分析
法醫(yī)應用與研究
近，與分離技術聯(lián)用進行環(huán)境毒理、生命科學等領域的元素價態(tài)、形態(tài)分析成為ICP-MS技術應用的一個焦點。
二手Agilent7500質譜儀icp-ms 電感耦合等離子體質譜分析特性：
可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素
低的檢出限（低至ppq級）
分析效益/成本
寬的線性動態(tài)范圍—可直接檢測從ppq到數(shù)百ppm濃度
譜線、干擾小，準確度和精密度好
需要樣品量很低(ul至ml)，分析速度很快（1～3分鐘/樣品）
檢測模式靈活多樣
半導體工業(yè)常用材料中超痕量污染物分析
固體：Si；GaAa單晶切片；石英、碳化硅等爐材料；高純金屬電極等
液體：超純水；HF；HNO3；HCI；H2SO4；H2O2；氨水等
氣體：SiH4；TE0S；NF3；N2等
Agilent ICP-MS可直接分析有機樣品。
Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等離子體技術已被用于測定一系列有機樣品的ppt級痕量污染元素。
對其中一些樣品，其他方法無法得到滿意的結果，高功率屏蔽矩冷等離子體技術分析方法。
強堿性清洗劑——四甲基氫氧化氨(TMAH)等
常用有機溶劑——甲苯、二甲苯、IPA等
高基體樣品——光刻膠、液晶、BPSG、PSG等揮發(fā)性*的清洗劑——丙酮、甲醇等
二手Agilent7500質譜儀icp-ms 技術參數(shù)：
1. 靈敏度：
低質量數(shù) Li(7): ? 50 Mcps/ppm；
中質量數(shù) Y(89): ? 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；
(高質量數(shù) Tl(205): ? 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；
根據(jù)用戶特殊需求，如激光、核工業(yè)、半導體材料等應用，可提供超高靈敏度功能
2. 檢測限：
低質量數(shù) Be(9): ? 0.5 ppt；
中質量數(shù) In(115): ? 0.1 ppt
高質量數(shù) Bi(209): ? 0.1 ppt
3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+:? 1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；
4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:? 3.0 %
5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ?0.1%
6. 質譜范圍：2 - 260 amu；
7 豐度靈敏度
低質量端: ? 5 x 10-7
高質量端: ? 1 x 10-7
主要特點：
尺寸zui小的ICP-MS
靈敏度zui高的碰撞池-第三代ORS3
*的 He 氣碰撞池：只用He氣就可以消除所有干擾。
zui耐高鹽的ICP-MS: HMI技術（TDS>3%）
zuixian進的ICP離子源技術：*的數(shù)字控制式諧頻ICP發(fā)生器
有機溶劑進樣不熄火！
分析速度zui快：ISIS-DS技術
zui容易維護和清洗
zui強的色譜聯(lián)機功能：真正的一體化
功能zui多zui強的軟件：系統(tǒng)，實現(xiàn)實時QA/QC
偏移標示，自動化控制等