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產品簡介
JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡（SEM）IT100的測試范圍：各種固體材料的形貌分析、微區化學成分檢測，樣品成份的線分布和面分布分析.
詳細介紹
JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100
一:測試范圍：
各種固體材料的形貌分析
微區化學成分檢測
樣品成份的線分布和面分布分析.
二:表面分析有哪些:
1. 表面形貌分析
2. 表面成分分析
3. 表面化學狀態分析
4. 表面顏色、色差測試
5. 表面相結構分析
6. 表面應力分析
7. 表面粗糙度測試
8. 表面異物分析
9. 表面失效分析
10.表面處理工藝判斷
三:表面異物分析:
在生產中,表面往往容易被污染、腐蝕、氧化，形成其他異物，一般很難用肉眼分辨，更無法了解其成分與來源，必須通過顯微途徑觀察分析。中心配備有顯微紅外、放大倍數從10倍-20萬倍的掃描電子顯微鏡和對固體樣品元素價態分析的X射線光電子能譜，可以分別對不同現象和類別的異物進行分析。掃描電子顯微鏡可在分子尺度，對材料微觀形貌進行直接觀測，同時對微小區域進行X射線能譜測試，分析其成分組成，X射線光電子能譜能夠對固體樣品的元素成分進行定性、定量或半定量及價態分析，廣泛應用于元素分析、多相研究、化合物結果鑒定、富集法微量元素分析、元素價態鑒定等。
四:JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100?分析儀優點:
①有較高的放大倍數，幾萬~幾十萬倍之間連續可調；
②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；
③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
五:JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100核心參數:
背散射電子圖像分辨率 4nm
二次電子圖象分辨率 3nm@30KV
加速電壓 0.5-30kV
放大倍數 5-300000
儀器種類 鎢燈絲