二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

二手 日本電子 IT-300掃描電鏡型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。前衛性外觀設計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，極為簡化，從此操作化簡單電鏡就。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型主要特點：
1、新式電子光學系統增強了圖像質量
2、全新的真空系統
3、標配5軸馬達驅動超高精度樣品臺
4擴展功能更加強大
5、觸摸屏操作
6、外觀魅力
7、大型樣品室和樣品臺
能容納大型、較重的樣品，可裝載最大尺寸為200 mmφ*80 mmH、重達2kg 的樣品
8、全自動5 軸馬達驅動樣品臺
采用了機械對中、五軸（X、 Y,、Z、T、R) 異步馬達控制的樣品臺，當觀察厚樣品或當感興趣區域(ROI) 不在傾斜軸的中心時，可利用標配的計算機控制的全對中傾斜和旋轉校正功能。
9、最佳幾何設計的分析接口
多個接口可以安裝EDS、EBSD 和WDS 等附件， EDS 和EBSD 處于同一平面，此外，還能安裝兩個相隔180 度的EDS 檢測器用于高通量的顯微分析。
10、移動迅速的樣品臺
新開發馬達驅動樣品臺能快速地定位 ( 與其它JEOL 的產品相比快1.5 倍）。
11、觸摸屏界面
新設計和開發的圖形用戶界面（GUI）使操作更加舒適，還能支持觸摸屏操作。 用戶界面的大小可以調節，因此在分析或數據處理時，可以優化工作空間。

二手 日本電子 IT-300掃描電鏡電子顯微鏡利用細聚焦的高能電子束在樣品表面進行光柵狀掃描，激發出二次電子和背散射電子等信號。這些信號被探測器捕獲并放大，用于在顯示器上重建樣品的形貌圖像。二次電子主要用于觀察樣品表面的微觀形貌，分辨率可達5～10納米，而背散射電子則用于分析樣品內部的成分差異。