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詳細介紹
二手電鏡：簡介
日立新推出的高分辨場發射掃描電鏡，1kv的分辨率提升到1.3nm，并在探測器設計上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號，實現微區的形貌襯度、原子序數襯度、結晶襯度和電位襯度的觀測；結合選配的STEM探測器，還可以實現明場像和暗場像的觀測；此外在半導體應用中，還可以安裝EBIC探測器，采集感生電流圖像，極大豐富了信號的采集，對樣品的信息的收集達到了新的高度。
技術特點：
1. 低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm
2. 日立的ExB設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品
3. 配置Lower、Upper和Top三個Everhart-Thornley型探測器
4. Upper和Top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像
5. 可以根據樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能
6. 標配有冷指、電子槍內置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能
7. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成
二手電鏡：操作事項
1.1 制備樣品 SEM樣品制備相對簡單，原則上只要能放入樣品室的樣品，都可進行觀察。
但需注意以下事項：
a) 樣品在物理上和化學上必須要保持穩定，在真空中和電子束轟擊下不揮發或變形， 沒有腐蝕性和放射性。（通常是干燥固體。）
b) 由于光源是電子，樣品必須導電，非導電樣品可噴鍍金膜。金膜在一定程度上會影 響樣品原有形貌。（若樣品本身導電，襯底不導電，如藍寶石上的ZnO，只需用導電膠把樣品表面連到樣品臺。）
c) 由于物鏡有強磁性，帶有磁性的樣品制樣必須非常小心，防止在強磁場中樣品被吸入物鏡或分散在樣品室中。通常磁性樣品必須退磁，且工作距離（WD）須大于8mm。
具體操作過程：
(1) 按待測樣品數量選擇樣品臺，（支持直徑d=5mm,15mm,1 inch,2 inch等規格，若要觀測截面可選擇帶角度的樣品臺）。
(2) 剪一小段導電膠，粘到樣品臺上。若樣品為粉末，則把粉末撒到導電膠上，用吸耳球或高壓氮氣吹掃掉導電膠上未粘緊的粉末；若是塊狀樣品，則把樣品牢牢粘到導電膠上，用手輕輕推，樣品不會左右晃動。（為觀測時方便定位，將樣品排列成行（或列），并在行下方（或列左側）標上數字編號。）
(3) 樣品粘貼完成后，用吸耳球或高壓氮氣吹掃掉樣品臺上的粉末、灰塵、水珠、唾沫等（會影響照片質量，甚至使真空度下降而無法加高壓，推薦認真執行。）
1.2 查看真空度 打開前面板蓋，點擊MODE按鈕直至IP1指示燈閃，在登記表記下MULT INDICATOR數碼顯示管的讀數，同理讀取IP2，IP3并記錄。確認IP1<2E-7，IP2<2E-6，IP3<5E-5。（通常情況都是IP1顯示0E-8，IP2顯示0E-8，IP3顯示0E-8或aE-7,1。）
二、 開機操作
2.1 開機
網絡營銷干貨匯總
搜索營銷 社會化營銷 移動營銷 數據分析
a) 開啟冷卻循環水電源，循環水溫度顯示應在15-20℃，水位應浸沒金屬線圈。
b) 按下位于桌子右上角的顯示單元“DISPLAY”開關，
c) 電腦自動啟動，根據界面提示按“Ctrl+Alt+Delete”，口令為空，直接Enter進入系 統。系統自動啟動程序，口令為空，直接Enter進入程序。按下“—”啟動Display 進入程序
2.2 轟擊（flashing） 場效應電子掃描顯微鏡（FE-SEM）在程序啟動后會提示進行flash，（去除電子源——FE吸附的氣體分子，起清潔作用。）通常是每天開始使用SEM時flash
一次，并記錄發射電流Ie，當累計使用超過8小時，發射電流開始不穩定，需要再轟擊一次，同樣記錄下電流Ie。（注意flash不需要開啟觀測用的電子槍高壓，軟件顯示高壓off為灰色狀態。） 轟擊后可以立即觀察圖像。但是在初的1小時左右，有時會有圖像干擾（圖像中出現明暗的橫線）。進行高分辨率的觀察時，轟擊完1小時以上后再進行觀察。
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