查看X射線熒光（XRF）相關的內容時，您可能會留意到文章里面經常會出現很多的英文略縮術語。您可以利用這份快速指南，來了解這些您經常會在網站上看到或者在工作中聽到的略縮術語。
XRF
XRF = X射線熒光。一種快速的無損檢測方法。用來測量材料的化學元素組成。類似的略縮術語有:
EDXRF = 能量色散型X射線熒光光譜法。快速、經濟的X射線熒光技術，普遍被運用在手持式的X射線熒光分析儀中。
WDXRF = 波長色散型X射線熒光光譜法。實驗室用的X射線熒光技術，相比較于利用能量色散型X射線熒光光譜法的分析儀，其價格更加昂貴。
HHXRF = 手持式X射線熒光分析儀
pXRF = 便攜式X射線熒光分析儀
探測器
手持式X射線熒光分析儀一般使用兩種類型的探測器：
PIN = 硅PIN二極管探測器。相較SDD探測器，是一種較為早期、便宜、探測效率慢的一種探測器。
SDD =硅漂移探測器。一種新型探測器，相較PIN探測器，計數率為其的10倍。
元素
LE =輕元素。輕元素被激發時發射的X射線能量很低，所以難以被我們的探測器接收到。
在判定LE的含義時需要結合上下文的內容。因為我們也經常將手持式XRF分析儀能夠測量到的一些輕元素也稱作為LE，包括：
鎂 （Mg）
鋁 （Al）
硅 （Si）
磷 （P）
硫 （S）
氯 （Cl）
鉀 （K）
鈣 （Ca）
上述輕元素只有利用SDD探測器才能檢測。
在很多情況下， LE 也代表在化學元素周期表中原子序數低的元素， 這些元素我們無法利用手持式XRF分析儀進行檢測，比如鈉（Na）， 碳 （C）， 氫 （H），以及氧 （O）。
氫（H）到鈉（Na）: 這些LE （藍色區域內的） 我們無法使用手持式XRF分析儀探測到。鎂 （Mg） 到鈧 （Sc）: 這些元素 （黃色區域內） 無法用PIN探測器檢測—需要使用搭載了SDD探測器的手持式XRF分析儀。
算法
FP =基本參數法。一種常用于X射線熒光技術的計算/校準的算法。它根據原子的基本物理特性，將不同的元素之間的干擾效應也納入了算法中。當分析一個具有高密度的樣本時（比如大多數的金屬材料），這會是一個非常有效的方法。
CN =康普頓算法。一種相對簡單的計算/校準的算法，適用于低密度樣本的分析。
可靠性鑒定
PMI = 材料可靠性鑒定。用戶在需要判定一些設備中的重要組成部件是否由某種特定的合金組成的時候需要對這些設備進行PMI判定， 比如：水管、閥門、焊接處、以及壓力容器。對一些特定的化學元素的含量進行檢測和匹配，快速的驗證金屬牌號。
分析檢測
LOD = 檢出限。LOD表示至低可以探測到的某種元素的含量。在含量非常低的時候，設備會無法判定該元素的存在、或者給出其含量的數值。
LOQ = 定量限。LOQ大約是LOD的3倍，元素含量在這個限值以上時，給出的檢測結果的置信度很高。
Vanta分析儀的型號
我們的Vanta XRF分析儀型號 由3位英文字母構成，以描述不同的特征，對應客戶不同的應用和分析檢測的需求。
3位英文字母分別體現了3個部分：Vanta、所屬系列和X射線管的類型。舉例：VMR、VCR、VCA和VLW。在我們的VMR型號中，V指Vanta、M指M系列、R指銠（Rh）靶X射線管。
下文會寫到我們Vanta系列的產品選擇以及各種X射線管的信息。
Vanta系列
M， C， L: 我們使用了羅馬數字去定義產品的價格/性能的等級。羅馬數字越高，產品的性能越高。M系列是我們性能較為*的產品，其次是C系列，最次為L系列。
X射線管類型
R =銠（Rh）靶X射線管。非常適合用于探測輕元素?？梢钥焖俚奶綔y鎂（Mg），在辨別鋁合金的牌號中該元素非常有用，這一特性使銠（Rh）靶X射線管非常適合運用在大多數的金屬應用中。
W = 鎢（W）靶X射線管。使用鎢或者類似的重元素作為靶材時，可以很好的探測高X射線能量的元素，比如鎘（Cd），在有害物質限制（ROHS）應用中是非常關注的元素。
A =銀（Ag）靶X射線管。可以很好的適用大多數的應用。銀靶X射線管無法像銠靶那樣很好的檢測鎂（Mg）元素，也無法像鎢靶那樣準確的探測鎘（Cd）元素。但是如果在預算有限的情況下，他不失為是一個很好的折衷方案。
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