當前位置:德國韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司>>KLA/科磊>>納米壓痕儀>> KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀
產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 50萬-100萬 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 納米壓痕儀 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀提供了易于使用的納米級力學測試工具,并快速、精確地對結果進行定量分析。G200X系統(tǒng)配置了我們性能優(yōu)秀的運動系統(tǒng)、最大的樣品裝載系統(tǒng)和高分辨率光學顯微鏡。因為擁有InView軟件、InQuest控制器和InForce作動器,我們的整個壓痕產品線均擁有優(yōu)秀的性能。KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀系統(tǒng)選件包括連續(xù)剛度測量(CSM)、掃描探針顯微成像、劃痕測試、頻率掃描、電學性能測量、快速壓痕測試和沖擊測試。
電磁驅動作動器可實現載荷和位移的寬動態(tài)范圍控制
高分辨率光學顯微鏡與精密XYZ移動系統(tǒng)的結合能實現高精度觀察與定位測試樣本。
便捷的樣品裝載臺與多樣品定位功能實現高通量測試。
模塊選件遠不止能進行壓痕測試,還可進行SPM成像、劃痕測試、高溫納米壓痕測量、動態(tài)壓痕測試(連續(xù)剛度測量)和快速壓痕測試等模塊化升級選件。
直觀的用戶操作界面便于快速進行測試設置;僅需點擊幾下鼠標即可完成測試的參數設置。
實時高效的實驗控制,簡單易用的測試流程開發(fā)和測試設置。
全套InView軟件,包括用于分析數據和創(chuàng)建報告的ReviewData和InFocus。
備受贊譽的快速納米壓痕測試可用于生成材料力學性能圖像,并提升統(tǒng)計數據的可靠性。
InQuest高速數字控制器,數據采集速率最高可達100kHz,時間常數最快為20µs。
快速硬度和模量測量(基于Oliver-Pharr模型)
快速材料表面力學特性成像
ISO 14577硬度測試
薄膜及涂層測試
界面附著力測量
斷裂韌性測量
粘彈性測量,包括損耗因子,儲存模量和損耗模量
掃描探針顯微成像(3D 成像)
定量劃痕和摩擦磨損測試
高溫納米壓痕測試
I-V測試
高校、科研實驗室和研究所
半導體與封裝產業(yè)
PVD/CVD硬質涂層(DLC、TiN)
MEMS:微機電系統(tǒng)/納米級通用測試
陶瓷與玻璃
金屬與合金
制藥
涂層與油漆
復合材料
電池與儲能
汽車與航空航天
請輸入賬號
請輸入密碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。