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IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H 參考價:面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode(小電流器件)進行連續工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫...IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統 參考價:面議
IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統華科智源-功率循環老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方...