Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統 參考價：面議
Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統產品簡介：帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數測試系統提供高速、靈活的配置，能夠隨...
吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀 參考價：面議
吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-...
功率半導體參數測試系統 參考價：面議
LET-SP802功率半導體參數測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。LET-SP802...
半導體動態參數測試系統 參考價：面議
半導體動態參數測試系統硬件優勢:1. 采用先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決S...
半導體靜態參數測試系統 參考價：面議
LET-5000半導體靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。
IGCT自動測試系統 參考價：面議
IGCT自動測試系統核心是安規及導通性能測試的訂制化標準測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內阻測試儀、安規測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機柜...
第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統 參考價：面議
KC-3105 第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一標準，便于后期擴展和維護...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室) 參考價：面議
KC3110功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。本系統可以在...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(生產端) 參考價：面議
KC3111功率半導體高精度靜態特性測試系統（生產端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。脈沖信號源輸...
功率半導體動態參數測試系統 參考價：面議
KC3120功率半導體動態參數測試系統可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各項動態參數測試，如開通時間、關斷時間...
博達微FS-Pro半導體參數測試系統 參考價：面議
博達微FS-Pro半導體參數測試系統是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統中實現了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、...
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