X射線熒光光譜儀能量色散檢測儀XRF

edx-720光譜儀   測ROHS   目前已經(jīng)停產(chǎn)  

產(chǎn)品簡介：

EDX-720  能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-720采用優(yōu)秀技術，能夠精確地對塑料、金屬及電子部件的成分進行定性分析、定量分析和定性半定量分析，滿足目前RoHS的分析要求。儀器的分析元素含蓋11號元素到92號元素。

詳細介紹：

一、EDX-720 X射線熒光光譜儀主機部分:

1、 X射線發(fā)生器單元

X射線管
類型Rh靶
冷卻方法空冷（附風扇）

2、X射線電源單元

電壓5-50kV，每步1Kv（測定重金屬(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)時，可以用50ｋV。但測定輕元素時，15kV是*的。另在工作曲線法中，隨時可設定*電壓。）電流 1-1000μA，每步1μA
穩(wěn)定度±0.01%（外電壓波動±10%）
保護電路過電壓, 過電流, 過功率,
X射線連鎖保護
（特點說明：電壓、電流可以由計算機控制自動調節(jié)，滿足不同元素的高精度分析，同時滿足RoHS，ELV指令擴展的要求）

3、一次X射線濾波片 5種自動交換
（特點說明：不同元素應該采用不同的濾光片進行分析，這樣才能有效降低背景，得到高準確度的測量數(shù)據(jù)。EDX-720進行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應的濾光片，無須手動更換）

二、EDX-720 X射線熒光光譜儀檢測器:
1、檢測器
類型Si（Li）檢測器
液氮只有在分析時添加
液氮消耗少于1升/天
檢測面積10mm2
分析元素Na-U
分辨率：小于150電子伏特
（特點說明：采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準確度的分析。在性能、實績、穩(wěn)定性上，Si(Li)半導體是性的實績（島津檢測器是自己生產(chǎn)，在萬一發(fā)生故障也迅速對應）。 掘場按振動檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時不能檢出，還有因為是低強度，在測試金屬中有害元素的感度也差。）

2、計數(shù)單元
放大器
擬合時間10μ秒
增益變化高/低
多道分析器（MCA）
變頻型順序比較ADC
道數(shù)2048道
最大計數(shù)率232-1/道

三、EDX-720 X射線熒光光譜儀樣品室與測定室單元
1、樣品室
蓋子自動開啟/關閉（帶安全系統(tǒng)）
每次測定時蓋子自動上升與下降。
最大樣品尺寸300mm 直徑 x 150mm高
（特點說明：樣品室自動開啟，樣品蓋子的結構設計有效避免X光的泄露，滿足日本及中國X射線的泄露控制標準。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試，無須切割）

2、測定室
X射線照射面積 下照射
光欄直徑1、3、5、10mm可選
（特點說明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄，可以保證各種大小樣品的高精度測試。）
測定室開孔13mm
3、測定氣氛：大氣
4、CCD觀察定位系統(tǒng)
配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng)，可以準確定位分析區(qū)域。

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