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詳細摘要： Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149...

詳細摘要： ROHS檢測分析儀X射線熒光光譜儀ROHS檢測分析儀UX-220經(jīng)過優(yōu)化光路的改善，產(chǎn)品測試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、C...

詳細摘要： Ux-350 RoHS無鹵環(huán)保檢測儀屬華唯系列產(chǎn)品中的高*機型，三星電子使用機型，三重射線防護系統(tǒng)；人性化操作界面；綜合應用經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法V6.0分析軟...

詳細摘要： X射線熒光鍍層測厚儀UX-700：本著對插接件等細小結(jié)構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設計，帶有聚焦光點的準直器，高分辨率的探測...

詳細摘要： ROHS檢測光譜儀UX-310:自動化的操作系統(tǒng)、人性化的操作界面，通過鼠標即可完成全程操作（真空控制、原級濾光片、準直器、二次濾光片、樣品及測試區(qū)域定位、樣品...

詳細摘要： ROHS檢測光譜儀UX-220:配備進口的探測器，分辨率性能*佳；X光管和電源經(jīng)銷款型，應對歐盟RoHS和無鹵環(huán)保指令檢驗*可以滿足。 采用華唯RoHS8.0軟...

詳細摘要： RoHS無鹵環(huán)保檢測儀熒光光譜分析儀:高度智能化設計使操作更加簡便，輕松成為測試專家。可根據(jù)測試情況，自動設定各操作單元動作及相關技術參數(shù)。既保證了相關器件的壽...

詳細摘要： 無損檢測儀微焦點X射線透視檢查裝置Xslicer SMX-6010是一款堅直照射型x射線檢查設備，配備了生產(chǎn)的微焦點x射線發(fā)生器和高分辦率平板探測器。通過高清晰...

詳細摘要： 日本島津超聲波光學金屬表面探傷儀島津的光學成像技術，將超聲波振子和頻閃觀測器相結(jié)合，在試樣表面使用超聲波振蕩器振動，表面因超聲波傳輸受到的微小位移用激光照射和光...

詳細摘要： 和伍超聲掃描顯微鏡設備整機尺寸750mm（長）×700mm（寬）×1350mm（高）。安裝方案基于空間占用最小化和維護/服務條件需要，保證在...

詳細摘要： 和伍超聲探傷儀多功能顯微鏡超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣...

詳細摘要： 和伍水浸超聲掃描顯微鏡超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)...

詳細摘要： 落地式光電直讀光譜儀最新開發(fā)出的一款落地式光電直讀光譜儀，光譜儀精華及最新分析技術于一身，憑借其可靠的結(jié)構和智能化軟件，保證了產(chǎn)品的突出性能和操作便捷。

詳細摘要： 硫化學發(fā)光檢測系統(tǒng)氣相色譜儀Nexis™ SCD-2030是為解決實驗室需求而開發(fā)出的新一代硫化學發(fā)光檢測系統(tǒng)。

詳細摘要： 日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學、新材料、半導體器件的觀察和分析。

詳細摘要： 能量色散型X熒光光譜儀追求高速·高靈敏度·高精度新型能量色散X射線熒光光譜儀

詳細摘要： 美國Imterscan硫化氫氣體檢測儀4170-1999m型硫化氫檢測儀是全球*廠家美國Interscan公司生產(chǎn)的專門用于室內(nèi)空氣質(zhì)量檢測、衛(wèi)生防疫、衛(wèi)生監(jiān)督...

詳細摘要： 日本電子掃描電鏡日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔...

詳細摘要： 離子污染分析儀 動態(tài)測試離子污染是一種被廣泛認可和遵循的標準。所以,也是設備使這一切成為可能-SCS Ionograph®，有不同的型號可供選擇，SC...

詳細摘要： 日本電子掃描電子顯微鏡JCM-700強大的“Zeromag“功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。“Live Analysis“...