UX-700 鍍層厚度檢測儀 華唯
配置型號探測器X光管高壓電源
Ux-700 MAMPTEK Si-PIN X-123（進口）上海科頤維（國產）咸陽威思曼（國產）
Ux-700 HAMPTEK Si-PIN X-123（進口）上海科頤維（國產）spellman（進口）
Ux-700 SAMPTEK SDD X-123（進口）上海科頤維（國產）

UX-700 鍍層厚度檢測儀 華唯
 

   配置型號    探測器    X光管    高壓電源    
Ux-700 M    AMPTEK Si-PIN X-123(進口)    上海科頤維（國產）    咸陽威思曼(國產)    
Ux-700 H    AMPTEK Si-PIN X-123(進口)    上海科頤維（國產）    spellman(進口)    
Ux-700 S    AMPTEK SDD X-123(進口)    上海科頤維（國產）    spellman(進口 

產品介紹：
    本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業小樣品測試腔的設計，帶有聚焦光點的準直器，高分辨率的探測系統，眾多*條件的選擇，保證測試結果的準確性。
    X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。
    Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺，可以通過鼠標的點擊操作，選擇樣品的多點測試，特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。
    Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備，測試樣品的部位清楚明了，同時攝像設備拍抓測試部位的圖片，和測試數據結果一同出現在測試報告中。
    Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
 
產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷   
探測器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數：5-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：鍍層濾光片
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：Ø0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開放工作區 自定義
樣品腔：70*20mm
整機重量：38kg
 
鍍層測厚方法：
1.磁性涂層測厚法
    使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測厚法
    可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
    所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
 
常用單位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”，密耳（mil）
1um=39.4邁， 1um=0.04mil

UX-700 鍍層厚度檢測儀 華唯