華高儀器于2024年11月08日9:40發(fā)布了文章【島津MIV-X超聲波光探傷裝置：創(chuàng)新技術(shù)無損檢測新時代】。作為在儀器設(shè)備行業(yè)服務(wù)了多年的經(jīng)銷商，華高儀器有著專業(yè)的儀器銷售團(tuán)隊以及售后服務(wù)人員，在采購前期能給客戶一套專業(yè)完善的采購方案以及及時響應(yīng)的售后服務(wù)。

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在當(dāng)今工業(yè)生產(chǎn)和材料科學(xué)領(lǐng)域，無損檢測技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。它不僅能夠確保產(chǎn)品的質(zhì)量和安全，還能大幅減少生產(chǎn)過程中的浪費和成本。島津企業(yè)管理（中國）有限公司推出的MIV-X超聲波光探傷裝置，正是這一領(lǐng)域的一項革命性創(chuàng)新。

技術(shù)原理與特點

島津MIV-X超聲波光探傷裝置基于島津光學(xué)成像技術(shù)，將超聲波振子和頻閃觀測器結(jié)合，實現(xiàn)了對材料近表面缺陷的無損檢測。這一技術(shù)的核心在于，通過激勵試樣表面，并以光學(xué)方式檢測表面位移，從而觀測超聲波在表面的傳播情況。只需將超聲波振蕩器簡單放置于樣品上，調(diào)整相機(jī)位置，短時間內(nèi)即可顯示超聲波的傳輸情況，并從視頻中輕松識別缺陷。

MIV-X裝置的軟件功能豐富且操作簡單，用戶能夠輕松標(biāo)記缺陷、測量尺寸，顯著提高了檢測效率和準(zhǔn)確性。此外，該裝置還配備了一個可選的光學(xué)變焦組件，能夠檢測更小的缺陷，使得傳統(tǒng)超聲檢測難以發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷（深度約1mm）得以可視化。

應(yīng)用領(lǐng)域與優(yōu)勢

MIV-X超聲波光探傷裝置在多種材料的研發(fā)和生產(chǎn)過程中具有廣泛的應(yīng)用前景。它可以輕松檢測異種材料接合、粘接面涂裝、噴涂等涂層面的剝離等表面附近的缺陷，這些缺陷往往是由組合不同材料以增加強(qiáng)度和減輕重量而產(chǎn)生的。此外，MIV-X還能彌補(bǔ)傳統(tǒng)超聲波檢測（UT）難以檢測的區(qū)域，擅長表面和近表面區(qū)域的檢測。

在涉及多種材料的研發(fā)過程中，MIV-X裝置的優(yōu)勢尤為明顯。它能夠無損且簡單地檢查各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)的材料，提供準(zhǔn)確的檢測結(jié)果，為材料科學(xué)家和工程師提供有力的支持。同時，MIV-X還具備高度的靈活性和可擴(kuò)展性，能夠適應(yīng)不同材料和檢測需求的變化。

市場認(rèn)可與榮譽(yù)

島津MIV-X超聲波光探傷裝置自推出以來，便受到了廣泛的關(guān)注和認(rèn)可。在多個展會和會議上，MIV-X都成為了焦點之一。例如，在2023年的BCEIA展會上，MIV-X作為獲獎?wù)蛊分?，在島津展位上吸引了眾多參觀者的目光。此外，島津企業(yè)管理（中國）有限公司的市場部產(chǎn)品專員還在第二屆無損檢測技術(shù)進(jìn)展與應(yīng)用網(wǎng)絡(luò)會議上分享了關(guān)于MIV-X的報告，進(jìn)一步推動了這一新技術(shù)的推廣和應(yīng)用。

結(jié)語

島津MIV-X超聲波光探傷裝置以其技術(shù)原理、廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域和顯著的優(yōu)勢，成為了無損檢測領(lǐng)域的一顆璀璨明珠。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步和應(yīng)用領(lǐng)域的不斷拓展，MIV-X將在未來的工業(yè)生產(chǎn)和材料科學(xué)中發(fā)揮更加重要的作用。我們相信，在島津的不斷努力下，MIV-X將無損檢測技術(shù)走向更加美好的明天。

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