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FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統

參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號:

品       牌:ThetaMetrisis

廠商性質:代理商

所  在  地:上海市

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更新時間:2024-11-09 15:45:58瀏覽次數:1351次

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FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件,FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。

FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件,FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。


典型應用包括:厚玻璃的厚度測量(厚度可達 2 毫米,透明或霧面)晶圓厚度測量(例如直徑達 12 英寸的單面或雙面拋光晶圓)。


FR-Ultra可以很容易地與笛卡爾坐標系和極坐標結合,用于大面積的厚度測量。


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硅片厚度分布圖(12英寸)


特點:

o 單擊分析(無需輸入初始預估值)

o 動態測量

o 內建700種以上不同材料

o 可安裝多個離線分析軟件

o 免費軟件更新


FR-Ultra NIR N3 中文版正式.jpg



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FR-Ultra NIR N3

型號: 參考價: ¥面議
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