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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>探針臺>GP200SiPH 硅光探針臺

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GP200SiPH 硅光探針臺

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南京芯測軟件技術有限公司,專業打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產化改造,以及系統集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試,器件測量系統軟件、硬件的先進供應商,以滿足國內用戶需求,開發半導體測試設備和系統集成軟件定制化服務。

南京芯測的在專注于在片測試系統設備經銷與晶圓在片測試軟件的研發。涉及的設備包括:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷芯片ESD測試系統、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業

 

 

 

 

探針臺,芯片ESD測試設備,TLP測試設備,CDM測試設備

晶圓尺寸 200mm 產地 國產

型號:GP200-SiPH

8英寸硅光測試手動探針臺

硅光探針臺應用:GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置,在短時間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。

XY行程

快速定位行程:210mm×210mm; 精調行程: 210mm×210mm ,

精調分辨率:≤ 1.0 μm;驅動方式:手動

Z軸行程

10mm;驅動方式:手動  

Theta旋轉

快速旋轉角度:360°;精調角度:±15°,精調分辨率:<0.02°;驅動方式:手動

Chuck臺

尺寸:203mm(8inch) ;真空盤可調節高度:±5mm

真空快速切換開關,真空調節檔位:Center、2’、4’、8’

安裝方式:真空盤與主體絕緣

臺面精度

平面度:<10 μm

快速拉出結構

行程:100mm

 

 



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