HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機 參考價：面議
ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5100D 全...
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備 參考價：面議
目前，對于半導體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在TLP傳輸線脈沖測試儀上得以實現、并有...
HANWA HED-C5000R CDM測試設備 參考價：面議
CDM測試儀,CDM測試設備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備
全自動芯片ESD測試設備 參考價：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備近年來，自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統的超前優良技術，解決自動駕駛技術的關鍵在于...
SiP模塊多芯片裝片機 參考價：2000000
高精度的混合多芯片貼裝，適配復雜模塊單程生產。主要應用于半導體行業的各種模塊貼裝/倒裝，包括光模塊，系統級封裝（SIP），攝像頭模組等。關鍵軸均采用高精度直線電...
多功能芯片分選機 參考價：2000000
支持膜到膜、膜到盒、盒到盒、盒到盒芯片分選，切換更靈活。支持芯片視覺2D檢測，焊頭恒力控制，芯片分選更可靠。
PIV 脈沖IV測試系統 參考價：面議
高功率脈沖PIV測試系統，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高級測量和建模軟件支持多種負載牽引技術，包括使用外部...
太赫茲負載牽引系統 參考價：面議
射頻探針臺負載牽引通過有源VMU+軟件，可以搭載keysight的VNA+extender的太赫茲網絡分析儀上，實現非50歐姆環境下，大信號條件下微波全參數測試...
硅光探針臺 參考價：面議
硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。GP200擁有穩定且...
射頻探針 參考價：面議
現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價：面議
現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價：10000
現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價：10000
現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻其它配件 參考價：面議
射頻探針臺,進口探針臺的射頻和毫米波測量應用提供了出色的柔性電纜和附件選擇，可實現完整的射頻探頭系統集成。射頻其它配件
探針座配件-探針座 參考價：面議
探針座配件-電動探針座MPI 提供各種無間隙微定位器，可滿足各種操作和測量條件。這些定位器從小尺寸到千分尺驅動的高分辨率定位器，適用于RF和mmW應用。
HED-N5000 全自動ESD測試系統 參考價：面議
芯片ESD測試設備，HED-N5000 全自動ESD測試系統，ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的...
ESD測試機 參考價：面議
芯片ESD測試設備,HANWA HCE-5000ESD測試機是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的生產過程中的質量保證都是...
GP200探針臺 參考價：面議
進口探針臺,GP200探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在短時間內準確地完成測試要求。 提供專業的測試方案，能夠實現高品質的I-V、C-V、RF 等...
功率器件分析儀B1506A 參考價：面議
是德科技功率器件分析儀B1506A提供完整的電路設計解決方案，實現對車規級大功率半導體的高效安全的測試驗證。
光感測器量子效率測量儀 參考價：3000000
SPAD光學傳感器測試設備,光感測器量子效率測量儀， 為了能更好的應用在移動設備上，這些先進光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應用卻對先進光傳感器的光感測...
GP200-8英寸手動探針臺 參考價：面議
GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時間內準確地完成測試要求。提供專業的測試方案，能夠實現高品質的I-V、C-V、RF 等測試。
8英寸高低溫探針臺 參考價：面議
GP200SE 8英寸高低溫探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時間內準確地完成測試要求。提供專業的測試方案，能夠實現高品質的I-V、C-V、R...
GP半自動探針臺 參考價：面議
GP半自動探針臺，GP2000-SE 高低溫探針臺。機臺可輕松實現DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。可應用于I-V/C-V/...
GP300探針臺 參考價：面議
大功率探針臺,GP300探針臺讓您的芯片測試更加簡單，機臺可輕松實現DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。
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