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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>芯片分選機> 晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡

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晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡

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南京芯測軟件技術有限公司,專業打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產化改造,以及系統集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試,器件測量系統軟件、硬件的先進供應商,以滿足國內用戶需求,開發半導體測試設備和系統集成軟件定制化服務。

南京芯測的在專注于在片測試系統設備經銷與晶圓在片測試軟件的研發。涉及的設備包括:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷芯片ESD測試系統、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業

 

 

 

 

探針臺,芯片ESD測試設備,TLP測試設備,CDM測試設備

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡


進料的wafer,經過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查,進行檢查和分選。操作員不接觸wafer,避免了污染和損傷wafer。

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡性能描述:

標準配備1個Load port,單臂翻轉Robot,Pre-aligner,目檢臺和顯微鏡。

兼容8寸和12寸wafer。

標準load port可以對應FOUP,AutoFOSB自動開蓋,具備mapping功能。

高精度運動機構,低噪音,低塵,無需供油。

觸摸屏操作,界面友好。

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡對應GEM300,采用SEMI標準軟件。

公司為您提供全自動晶圓2D/3D AOI光學檢驗機的參數、價格、型號、原理等信息,全自動晶圓2D/3D AOI光學檢驗機產地為日本、品牌為--,型號為GBIT-WA-100,價格為面議,更多相關信息可咨詢,公司客服電話7*24小時為您服務。



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