掃描透射探測器 掃描透射探測器
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 TESCAN泰思肯貿易(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 掃描透射探測器
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/6/13 11:38:20
- 訪問次數 412
產品標簽
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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
---|---|---|---|
應用領域 | 環保 |
掃描透射探測器在不同角度散射的透射電子反映樣品的不同信息,可獲得以下信號:
- 明場像(BF)通常代表薄片樣品的布拉格衍射取向和質厚襯度
- 暗場像(DF)包含部分取向襯度和輕元素的成分襯度
- 高角度暗場像(HADF)包含多的是成分襯度 散射角取決于材料、薄片的厚度和電子束能量。
掃描透射探測器散射角取決于材料、薄片的厚度和電子束能量。
應用:STEM 探測器用于研究生物樣品中的超微結構、半導體器件的失效分析和材料的表征。
TESCAN 開發了兩種類型的 STEM 探測器,都可以用于 SEM 或 FIB-SEM系統,對于 FIB-SEM 系統而言,它有助于制備高質量薄片樣品并進行原位分析,增強了儀器的分析能力。
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