Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon

Bruker公司的AFM具有多項zhuan  li技術，以其的性能廣泛應用于科研和工業界各領域

Dimension Icon 系列作為布魯克公司(Bruker AXS)原子力顯微鏡的旗艦產品，凝聚了多項行業*的zhuan  li技術，是二十多年技術創新、客戶反饋和行業應用的結晶。

應用：

應用于科研和工業界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，薄膜性能表征等領域的監測等各類科研和生產工作。

原理：

將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖*原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

特征：

1. 低漂移和低噪音水平
2. 配置有專有ScanAsys原子成像優化技術，可以簡易快速穩定成像
3. 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm
4. 溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現出*的高分辨率。
5. 全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大提高了掃描速度。
6. 探針和樣品臺的開放式設計使Icon 可勝任各種標準和非標準的實驗。
7. 良好的布魯克AFM的模式和技術，如高次諧波共振模式，和獨有的不失真高溫成像技術--采用對針尖和樣品同時加熱的方法，zui da減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。

部分選擇項：